نمایش منو
صفحه اصلی
جستجوی پیشرفته
فهرست کتابخانه ها
عنوان
An artificial intelligence approach to test generation
پدید آورنده
Singh, Narinder
موضوع
$AIntegrated circuits - Very large scale integration - Testing - Data processing,$AExpert systems )Computer science(,$AArtificial intelligence
رده
TK
7874
.
S533
1987
کتابخانه
كتابخانه و مركز اسناد سازمان پژوهشهای علمی و صنعتی ایران
محل استقرار
استان:
تهران
ـ شهر:
تهران
تماس با کتابخانه :
7
-
56276326
-
021
شناسگر استاندارد دیگر
شماره استاندارد
6323
عنوان و نام پديدآور
نام نخستين پديدآور
Singh, Narinder
عنوان اصلي به قلم نويسنده ديگر
6591-
عنوان اصلي
An artificial intelligence approach to test generation
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
Boston
نام ناشر، پخش کننده و غيره
Kluwer Academic Pub.
تاریخ نشرو بخش و غیره
1987
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
X,193p. :ill.
فروست
عنوان فروست
The Kluwer international series in engineering and computer science
شاپا ي ISSN فروست
19
يادداشت کلی
متن يادداشت
Bibliography:p.]189[-193
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
عنصر شناسه ای
$AIntegrated circuits - Very large scale integration - Testing - Data processing
عنصر شناسه ای
$AExpert systems )Computer science(
عنصر شناسه ای
$AArtificial intelligence
رده بندی ديویی
شماره
رده بندی کنگره
شماره رده
TK
7874
.
S533
1987
نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )
عنصر شناسه اي
by Narinder Singh
نام / عنوان به منزله شناسه افزوده
عنصر شناسه اي
TI
پیشنهاد / گزارش اشکال
×
پیشنهاد / گزارش اشکال
×
اخطار!
اطلاعات را با دقت وارد کنید
گزارش خطا
پیشنهاد