IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems : proceedings : 25-27 October 2000; Yamanshi, Japan
نام نخستين پديدآور
Sponsored by The IEEE computer society [and]& The IEEE computer society technical committee on fault-tolerant computing [and]& The computer society test technology technical committee
نام ساير پديدآوران
In cooperation with Technical group on fault tolerant systems, IEICE, Japan
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
Los Alamitos
نام ناشر، پخش کننده و غيره
IEEE Computer Society Press
تاریخ نشرو بخش و غیره
2002
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
xii, 422 p. ill.
یادداشتهای مربوط به کتابنامه ، واژه نامه و نمایه های داخل اثر
متن يادداشت
Includes bibliographic references and author index.
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
عنصر شناسه ای
Integrated circuitsVery large scale integrationDesign and constructionCongresses
عنصر شناسه ای
Fault-tolerant computingCongresses
رده بندی کنگره
شماره رده
TK
,
7874
,.
J33
نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )
عنصر شناسه اي
IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems\ 25-27 October 2000: Yamanashi, Japan