تعداد ۱ پاسخ غیر تکراری از ۱ پاسخ تکراری در مدت زمان ۱,۴۷ ثانیه یافت شد.

1. Test and diagnosis for small-delay defects

پدیدآورنده : / Mohammad Tehranipoor, Ke Peng and Krishnendu Chakrabarty

کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد و انتشارات دانشگاه تبریز (آذربایجان شرقی)

موضوع : Integrated circuits--Very large scale integration--Defects,Integrated circuits--Very large scale integration--Testing,Delay faults (Semiconductors)

رده :

TK7874

.

T4323

2011

»
1
«

این پایگاه با مشارکت موسسه علمی - فرهنگی دارالحدیث و مرکز تحقیقات کامپیوتری علوم اسلامی (نور) اداره می شود
مسئولیت صحت اطلاعات بر عهده کتابخانه ها و حقوق معنوی اطلاعات نیز متعلق به آنها است