1. Microscopy of materials : modern imaging methods using electron, X-ray, and ion beams

پدیدآورنده :

موضوع : Microscopy ، Materials

۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.

2. X-ray metrology in semiconductor manufacturing

پدیدآورنده :

کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتي شريف (تهران)

موضوع : ، Semiconductors-- Design and construction Quality control,، Integrated circuits-- Measurement,، Semiconductor wafers-- Inspection,، X-rays-- Diffraction,، Fluroscopy

رده :
TK
7874
.
58
.
B69
2006