1. ......................

پدیدآورنده :

کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)

موضوع : Defects - Defects - Congresses ، Crystals,Congresses ، X-ray crystallography

رده :
QD
921
.
N38
1979

2. High resolution X-ray diffractometry and topography

پدیدآورنده :

کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)

موضوع : X-ray crystallography.,X-rays- Diffraction.,Crystals

رده :
‭
QD945
‬ ‭.
B683
1998
‬

3. Introduction to the physics of electrons in solids

پدیدآورنده :

کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد دانشگاه شهید باهنر کرمان (کرمان)

موضوع : ، Solid state physics,، Energy-band theory of solids,، Semiconductors

رده :
QC
176
.
T32
1995

4. Introduction to the physics of electrons in solids

پدیدآورنده :

موضوع : ، Solid state physics,، Energy-band theory of solids,، Semiconductors

۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.

5. Introduction to the physics of electrons in solids

پدیدآورنده :

کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد دانشگاه اراک (مرکزی)

موضوع : Solid state physics,Energy-- band theory of solids,Semiconductors

رده :
530
.
411
T166t

6. Introduction to the physics of elements in solids

پدیدآورنده :

کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه بين المللی امام خمينی (ره) قزوين (قزوین)

موضوع : Solid state physics,Energy-band theory of solid,Semiconductors

رده :
QC
.
T32
176
1995

7. Word and image in ancient Greece /

پدیدآورنده :

کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)

موضوع : Art and literature-- Greece, Congresses.,Art, Greek, Congresses.,Greek language-- Writing, Congresses.,Signs and symbols-- Greece, Congresses.,Written communication-- Greece, Congresses.,Arts grecs-- Congrès.,Communication écrite-- Grèce-- Congrès.,Signes et symboles-- Grèce-- Congrès.,Art and literature.,Art, Greek.,Beeldcultuur.,Greek & Latin Languages & Literatures.,Greek language-- Writing.,Griekse oudheid.,LANGUAGE ARTS & DISCIPLINES-- Communication Studies.,Languages & Literatures.,Schriftelijke communicatie.,Signs and symbols.,Spreektaal.,Written communication.,Grèce, Civilisation, Jusqu'à 146 av. J.-C., Congrès.,Greece., 6, 7

رده :
PA227
.
W67
2000eb

8. X-ray and neutron dynamical diffraction

پدیدآورنده :

کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)

موضوع : X-rays, Diffraction, Congresses,Neutrons, Diffraction, Congresses,X-ray crystallography, Congresses,Interferometry, Neutron, Congresses

رده :
QC482
.
D5
X68
,
1996

9. X-ray diffraction topography /

پدیدآورنده :

کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)

موضوع : X-ray crystallography.

رده :
QD945
.
T36
1976

10. X-ray diffraction topography

پدیدآورنده :

کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتي شريف (تهران)

موضوع : ، X-ray crystallography

رده :
QD
945
.
T36
1976

11. X-ray diffraction topography

پدیدآورنده :

کتابخانه: كتابخانه پردیس علوم دانشگاه تهران (تهران)

موضوع : ، X-ray crystallography

رده :
QD
945
.
T36

12. X-ray diffraction topography

پدیدآورنده :

کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)

موضوع : ، X-ray crystallography

رده :
QD
945
.
T36

13. X-ray metrology in semiconductor manufacturing

پدیدآورنده :

موضوع : ، Semiconductors- Design and construction- Quality control,، Integrated circuits- Measurement,، Semiconductor wafers- Inspection,، X-rays- Diffraction,، Fluroscopy

۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.

14. X-ray metrology in semiconductor manufacturing

پدیدآورنده :

کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)

موضوع : Semiconductors--Design and construction--Quality control,Integrated circuits--Measurement,Semiconductor wafers--Inspection,X-rays--Diffraction,Fluroscopy

رده :
TK7874
.
58
.
B69
2006

15. X-ray metrology in semiconductor manufacturing

پدیدآورنده :

کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه محقق اردبیلی ره (اردبیل)

موضوع : Semiconductors- Design and construction- Quality control,Integrated circuits- Measurement,Semiconductor wafers- Inspection,X-rays- Diffraction,Fluroscopy

رده :
TK7874
.
58
.
B69
2006

16. X-ray metrology in semiconductor manufacturing

پدیدآورنده :

کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)

موضوع : Semiconductors , Design and construction , Quality control,Integrated circuits , Measurement,Semiconductor wafers , Inspection,X-rays , Diffraction,Fluroscopy

رده :
E-BOOK

17. ray diffractometry and topography /-High resolution X

کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)

موضوع : rays ; Diffraction. ; Crystals. ; -ray crystallography. ; X-X