• صفحه اصلی
  • جستجوی پیشرفته
  • فهرست کتابخانه ها
  • درباره پایگاه
  • ارتباط با ما
  • تاریخچه
  • ورود / ثبت نام
تعداد ۱۶ پاسخ غیر تکراری از ۱۷ پاسخ تکراری در مدت زمان ۱,۶۱ ثانیه یافت شد.

1. Thin Film analysis by X-Ray scattering

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex (مخصوص کاربران)
  • RIS (مخصوص کاربران)
  • Endnote (مخصوص کاربران)
  • Refer (مخصوص کاربران)
  • Mark (مخصوص کاربران)

پدیدآورنده: / Mario Birkholz by with Contributions by paul F. Fewster, Chritoph Genzel

کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه شهيد چمران (خوزستان)

موضوع: Thin films,X - ray spectroscopy

رده :
QC176
.
83
.
B57
2006

2. Thin film analysis by X-Ray scattering

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex (مخصوص کاربران)
  • RIS (مخصوص کاربران)
  • Endnote (مخصوص کاربران)
  • Refer (مخصوص کاربران)
  • Mark (مخصوص کاربران)

پدیدآورنده: / Mario Birkhols with contributions by Paul F. Fewster, Christoph Genzel

کتابخانه: کتابخانه پرديس 2 دانشکده‌های فنی دانشگاه تهران (تهران)

موضوع: Thin films,X-ray spectroscopy

رده :
QC
176
.
83
.
B57
2006

3. Thin film analysis by X-Ray scattering

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex (مخصوص کاربران)
  • RIS (مخصوص کاربران)
  • Endnote (مخصوص کاربران)
  • Refer (مخصوص کاربران)
  • Mark (مخصوص کاربران)

پدیدآورنده: / Mario Birkhols with contributions by Paul F. Fewster, Christoph Genzel

کتابخانه: کتابخانه دانشکدگان فنی 1 دانشگاه تهران (تهران)

موضوع: Thin films,X-ray spectroscopy

رده :
QC
176
.
83
.
B57
2006

4. Thin film analysis by X-ray scattering

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex (مخصوص کاربران)
  • RIS (مخصوص کاربران)
  • Endnote (مخصوص کاربران)
  • Refer (مخصوص کاربران)
  • Mark (مخصوص کاربران)

پدیدآورنده: / Mario Birkholz with contributions by Paul F. Fewster, Christoph Genzel

کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه ایلام (ایلام)

موضوع: Thin films,X-ray spectroscopy

رده :
QC176
.
83
.
B57
2006

5. Thin film analysis by X-ray scattering

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex (مخصوص کاربران)
  • RIS (مخصوص کاربران)
  • Endnote (مخصوص کاربران)
  • Refer (مخصوص کاربران)
  • Mark (مخصوص کاربران)

پدیدآورنده: / Mario Birkholz with contributions by Paul F. Fewster, Christoph Genzel

کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)

موضوع: Thin films,X-ray spectroscopy

رده :
QC176
.
83
.
B455
2006

6. Thin film analysis by X-ray scattering

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex (مخصوص کاربران)
  • RIS (مخصوص کاربران)
  • Endnote (مخصوص کاربران)
  • Refer (مخصوص کاربران)
  • Mark (مخصوص کاربران)

پدیدآورنده: / Mario Birkholz with contributions by Paul F. Fewster, Christoph Genzel

کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه شهيد چمران (خوزستان)

موضوع: Thin films.,X-ray spectroscopy.

رده :

7. Thin film analysis by X-ray scattering

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex (مخصوص کاربران)
  • RIS (مخصوص کاربران)
  • Endnote (مخصوص کاربران)
  • Refer (مخصوص کاربران)
  • Mark (مخصوص کاربران)

پدیدآورنده: / Mario Birkholz with contributions by Paul F. Fewster, Christoph Genzel

کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)

موضوع: Thin films,X-ray spectroscopy

رده :
QC176
.
83
.
B57
2006

8. Thin film analysis by X-ray scattering

پدیدآورنده : Mario Birkholz with contributions by Paul F. Fewster, Christoph Genzel

موضوع : Thin films,X-ray spectroscopy

۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.

9. Thin film analysis by X-ray scattering

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex (مخصوص کاربران)
  • RIS (مخصوص کاربران)
  • Endnote (مخصوص کاربران)
  • Refer (مخصوص کاربران)
  • Mark (مخصوص کاربران)

پدیدآورنده: Birkholz, Mario

کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد دانشگاه شهید باهنر کرمان (کرمان)

موضوع: ، Thin films,، X-ray spectroscopy

رده :
QC
176
.
83
.
B57
2006

10. Thin film analysis by X-ray scattering

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex (مخصوص کاربران)
  • RIS (مخصوص کاربران)
  • Endnote (مخصوص کاربران)
  • Refer (مخصوص کاربران)
  • Mark (مخصوص کاربران)

پدیدآورنده: Birkholz, Mario

کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (تهران)

موضوع: ، Thin films,، X-ray spectroscopy

رده :
QC
176
.
83
.
B57
2006

11. X-ray scattering from semiconductors

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex (مخصوص کاربران)
  • RIS (مخصوص کاربران)
  • Endnote (مخصوص کاربران)
  • Refer (مخصوص کاربران)
  • Mark (مخصوص کاربران)

پدیدآورنده: / Paul F. Fewster

کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه شهيد چمران (خوزستان)

موضوع: X-rays--Scattering,Semiconductors.

رده :
QC
,
482
,.
S3
,
F49
,
2003

12. X-ray scattering from semiconductors /

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex (مخصوص کاربران)
  • RIS (مخصوص کاربران)
  • Endnote (مخصوص کاربران)
  • Refer (مخصوص کاربران)
  • Mark (مخصوص کاربران)

پدیدآورنده: Paul F. Fewster

کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)

موضوع: Semiconductors,X-rays-- Scattering

رده :

13. X-ray scattering from semiconductors

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex (مخصوص کاربران)
  • RIS (مخصوص کاربران)
  • Endnote (مخصوص کاربران)
  • Refer (مخصوص کاربران)
  • Mark (مخصوص کاربران)

پدیدآورنده: Fewster, Paul F.

کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی شاهرود (سمنان)

موضوع: Scattering ، X-rays,، Semiconductors

رده :
QC
482
.
S3F4
2003

14. X-ray scattering from semiconductors

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex (مخصوص کاربران)
  • RIS (مخصوص کاربران)
  • Endnote (مخصوص کاربران)
  • Refer (مخصوص کاربران)
  • Mark (مخصوص کاربران)

پدیدآورنده: Fewster, Paul F.

کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد دانشگاه شهید باهنر کرمان (کرمان)

موضوع: ، X-rays - Scattering,، Semiconductors

رده :
QC
482
.
F475
2000

15. X_Ray Scattering From Semiconductors

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex (مخصوص کاربران)
  • RIS (مخصوص کاربران)
  • Endnote (مخصوص کاربران)
  • Refer (مخصوص کاربران)
  • Mark (مخصوص کاربران)

پدیدآورنده: / Paul F. Fewster

کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه محقق اردبیلی ره (اردبیل)

موضوع: X_Rays _ Scattering.,Semiconductors

رده :
QC482
.
F
475

16. ray scattering from semiconductors-X

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex (مخصوص کاربران)
  • RIS (مخصوص کاربران)
  • Endnote (مخصوص کاربران)
  • Refer (مخصوص کاربران)
  • Mark (مخصوص کاربران)

پدیدآورنده:

کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)

موضوع: rays ; Scattering. ; Semiconductors. ; -X

رده :
  • »
  • 1
  • «

پیشنهاد / گزارش اشکال

اخطار! اطلاعات را با دقت وارد کنید
ارسال انصراف
این پایگاه با مشارکت موسسه علمی - فرهنگی دارالحدیث و مرکز تحقیقات کامپیوتری علوم اسلامی (نور) اداره می شود
مسئولیت صحت اطلاعات بر عهده کتابخانه ها و حقوق معنوی اطلاعات نیز متعلق به آنها است
برترین جستجوگر - پنجمین جشنواره رسانه های دیجیتال