تعداد ۱ پاسخ غیر تکراری از ۱ پاسخ تکراری در مدت زمان ۰,۵۵ ثانیه یافت شد.

1. Atomic force microscopy/scanning tunneling microscopy 3

پدیدآورنده : edited by Samuel H. Cohen and Marcia L. Lightbody.

کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)

موضوع : Microscòpia d'escombratge per efecte túnel.,Microscòpia electrònica de rastreig.,Microscòpia electrònica d'escombratge.

رده :

QH212

.

A78

E358

2002

»
1
«

این پایگاه با مشارکت موسسه علمی - فرهنگی دارالحدیث و مرکز تحقیقات کامپیوتری علوم اسلامی (نور) اداره می شود
مسئولیت صحت اطلاعات بر عهده کتابخانه ها و حقوق معنوی اطلاعات نیز متعلق به آنها است