تعداد ۱ پاسخ غیر تکراری از ۱ پاسخ تکراری در مدت زمان ۱,۰۰ ثانیه یافت شد.

1. Testing and diagnosis of VLSI and USLI

پدیدآورنده : Edited by Fabrizio Lombardi and Maria Giovannasami

کتابخانه: کتابخانه مرکزی پردیس 1 فنی دانشگاه تهران (تهران)

موضوع : Integrated circuits--Very large scale integration - Testing-Congresses

رده :

TK

7874

.

N345

1987

»
1
«

این پایگاه با مشارکت موسسه علمی - فرهنگی دارالحدیث و مرکز تحقیقات کامپیوتری علوم اسلامی (نور) اداره می شود
مسئولیت صحت اطلاعات بر عهده کتابخانه ها و حقوق معنوی اطلاعات نیز متعلق به آنها است