1. High resolution X-ray diffractometry and topography
پدیدآورنده : / D. Keith Bowen, Brian K. Tanner
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)
موضوع : X-ray crystallography.,X-rays- Diffraction.,Crystals
رده :
QD945
.
B683
1998
2. X-ray metrology in semiconductor manufacturing
پدیدآورنده : / D. Keith Bowen, Brian K. Tanner
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع : Semiconductors--Design and construction--Quality control,Integrated circuits--Measurement,Semiconductor wafers--Inspection,X-rays--Diffraction,Fluroscopy
رده :
TK7874
.
58
.
B69
2006
3. X-ray metrology in semiconductor manufacturing
پدیدآورنده : / D. Keith Bowen, Brian K. Tanner
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه محقق اردبیلی ره (اردبیل)
موضوع : Semiconductors- Design and construction- Quality control,Integrated circuits- Measurement,Semiconductor wafers- Inspection,X-rays- Diffraction,Fluroscopy
رده :
TK7874
.
58
.
B69
2006
4. X-ray metrology in semiconductor manufacturing
پدیدآورنده : / D. Keith Bowen, Brian K. Tanner
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع : Semiconductors , Design and construction , Quality control,Integrated circuits , Measurement,Semiconductor wafers , Inspection,X-rays , Diffraction,Fluroscopy
رده :
E-BOOK
