1. In for Integrated Circuits-Level Testing and Test During Burn-Wafer

پدیدآورنده :

کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)

موضوع : ELECTRONIC&ENGINEERING, ELECTRICAL

رده :
E-BOOK

2. Wafer-level testing and test during burn-in for integrated circuits /

پدیدآورنده :

کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)

موضوع : Integrated circuits-- Testing.,Integrated circuits-- Wafer-scale integration.,Semiconductors-- Testing.,Integrated circuits-- Testing.,Integrated circuits-- Wafer-scale integration.,Semiconductors-- Testing.,TECHNOLOGY & ENGINEERING-- Electronics-- Digital.,TECHNOLOGY & ENGINEERING-- Electronics-- Microelectronics.

رده :
TK7874
.
B35
2010

3. Wafer-level testing and test during burn-in for integrated circuits / Sudarshan Bahukudumbi, Krishnendu Chakrabarty

پدیدآورنده :

کتابخانه: کتابخانه و مرکز اطلاع رسانی آیت الله ایمانی دانشگاه سلمان فارسی (فارس)

موضوع : Integrated circuits, Testing,Integrated circuits, Wafer-scale integration,Semiconductors, Testing

رده :
TK
7874
.
B22W3
2010