نمایش منو
صفحه اصلی
جستجوی پیشرفته
فهرست کتابخانه ها
درباره پایگاه
ارتباط با ما
تاریخچه
ورود / ثبت نام
عنوان
Applications of finite element methods for reliability studies on ULSI interconnections
پدید آورنده
/ Cher Ming Tan ... [et al.]
موضوع
Integrated circuits -- Ultra large scale integration,Finite element method
رده
TK
7874
.
76
.
A67
2011
کتابخانه
کتابخانه پرديس 2 دانشکدههای فنی دانشگاه تهران
محل استقرار
استان:
تهران
ـ شهر:
تهران
تماس با کتابخانه :
88225387
-
021
شابک
ويژگيها
(alk. paper)
ويژگيها
(e-ISBN)
شابک
978-0-85729-309-1
شابک
0857293095
شابک
9780857293107
شماره کتابشناسی ملی
کد کشور
IR
شماره
377902
زبان اثر
زبان متن نوشتاري يا گفتاري و مانند آن
انگلیسی
کشور محل نشر یا تولید
کشور محل نشر
IR
عنوان و نام پديدآور
عنوان اصلي
Applications of finite element methods for reliability studies on ULSI interconnections
نام عام مواد
[Book]
نام نخستين پديدآور
/ Cher Ming Tan ... [et al.]
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
London; New York
نام ناشر، پخش کننده و غيره
: Springer
تاریخ نشرو بخش و غیره
, c2011
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
vii, 150 p.
ساير جزييات
: ill. (some col.)
ابعاد
; 24 cm
يادداشت کلی
متن يادداشت
English
یادداشتهای مربوط به کتابنامه ، واژه نامه و نمایه های داخل اثر
متن يادداشت
Includes bibliographical references and index
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
موضوع مستند نشده
Integrated circuits -- Ultra large scale integration
موضوع مستند نشده
Finite element method
رده بندی کنگره
شماره رده
TK
7874
.
76
نشانه اثر
.
A67
2011
نام شخص - ( مسئولیت معنوی درجه دوم )
مستند نام اشخاص تاييد نشده
Tan, Cher Ming
مبدا اصلی
کشور
Iran
سازمان
University of Tehran. Library of Technical Camp 2
وضعیت فهرست نویسی
وضعیت فهرست نویسی
Old cataloging
وضعیت انتشار
فرمت انتشار
p
اطلاعات رکورد کتابشناسی
نوع ماده
BL
پیشوند ISBD اعمال شده است
1
اطلاعات دسترسی رکورد
تكميل شده
Y
پیشنهاد / گزارش اشکال
×
پیشنهاد / گزارش اشکال
×
اخطار!
اطلاعات را با دقت وارد کنید
گزارش خطا
پیشنهاد