• صفحه اصلی
  • جستجوی پیشرفته
  • فهرست کتابخانه ها
  • درباره پایگاه
  • ارتباط با ما
  • تاریخچه

عنوان
Power- constrained testing of VLSI circuits

پدید آورنده
Nicolici, Nicola

موضوع
Testing ، Integrated circuits, Very large scale integration,Protection ، Integrated circuits, Very large scale integration,Thermal properties ، Semiconductors

رده
TK
7874
.
75
.
N5P6

کتابخانه
کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی شاهرود

محل استقرار
استان: سمنان ـ شهر: شاهرود

کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی شاهرود

تماس با کتابخانه : 32300335-023

عنوان و نام پديدآور

عنوان اصلي
Power- constrained testing of VLSI circuits

وضعیت نشر و پخش و غیره

محل نشرو پخش و غیره
Boston
نام ناشر، پخش کننده و غيره
Kluwer academic
تاریخ نشرو بخش و غیره
2003

مشخصات ظاهری

نام خاص و کميت اثر
xi,178 p. : illus, tables

فروست

ساير اطلاعات عنواني
Frontiers in electronic testing ; 22

يادداشت کلی

متن يادداشت
Bibliography: p. 163-173 and index

یادداشتهای مربوط به عنوان و پدیدآور

متن يادداشت
by Nicola Nicolici and Bashir M. Al-Hashimi

یادداشت های مربوط به نسخه اصلی

متن يادداشت
1

موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)

عنصر شناسه ای
Testing ، Integrated circuits, Very large scale integration
عنصر شناسه ای
Protection ، Integrated circuits, Very large scale integration
عنصر شناسه ای
Thermal properties ، Semiconductors

رده بندی کنگره

شماره رده
TK
7874
.
75
.
N5P6

نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )

عنصر شناسه اي
Nicolici, Nicola
کد نقش
AU

نام / عنوان به منزله شناسه افزوده

عنصر شناسه اي
AU Al- Hashimi, Bashir
عنصر شناسه اي
TI
عنصر شناسه اي
SE

پیشنهاد / گزارش اشکال

اخطار! اطلاعات را با دقت وارد کنید
ارسال انصراف
این پایگاه با مشارکت موسسه علمی - فرهنگی دارالحدیث و مرکز تحقیقات کامپیوتری علوم اسلامی (نور) اداره می شود
مسئولیت صحت اطلاعات بر عهده کتابخانه ها و حقوق معنوی اطلاعات نیز متعلق به آنها است
برترین جستجوگر - پنجمین جشنواره رسانه های دیجیتال