نمایش منو
صفحه اصلی
جستجوی پیشرفته
فهرست کتابخانه ها
درباره پایگاه
ارتباط با ما
تاریخچه
عنوان
Power- constrained testing of VLSI circuits
پدید آورنده
Nicolici, Nicola
موضوع
Testing ، Integrated circuits, Very large scale integration,Protection ، Integrated circuits, Very large scale integration,Thermal properties ، Semiconductors
رده
TK
7874
.
75
.
N5P6
کتابخانه
کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی شاهرود
محل استقرار
استان:
سمنان
ـ شهر:
شاهرود
تماس با کتابخانه :
32300335
-
023
عنوان و نام پديدآور
عنوان اصلي
Power- constrained testing of VLSI circuits
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
Boston
نام ناشر، پخش کننده و غيره
Kluwer academic
تاریخ نشرو بخش و غیره
2003
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
xi,178 p. : illus, tables
فروست
ساير اطلاعات عنواني
Frontiers in electronic testing ; 22
يادداشت کلی
متن يادداشت
Bibliography: p. 163-173 and index
یادداشتهای مربوط به عنوان و پدیدآور
متن يادداشت
by Nicola Nicolici and Bashir M. Al-Hashimi
یادداشت های مربوط به نسخه اصلی
متن يادداشت
1
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
عنصر شناسه ای
Testing ، Integrated circuits, Very large scale integration
عنصر شناسه ای
Protection ، Integrated circuits, Very large scale integration
عنصر شناسه ای
Thermal properties ، Semiconductors
رده بندی کنگره
شماره رده
TK
7874
.
75
.
N5P6
نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )
عنصر شناسه اي
Nicolici, Nicola
کد نقش
AU
نام / عنوان به منزله شناسه افزوده
عنصر شناسه اي
AU Al- Hashimi, Bashir
عنصر شناسه اي
TI
عنصر شناسه اي
SE
پیشنهاد / گزارش اشکال
×
پیشنهاد / گزارش اشکال
×
اخطار!
اطلاعات را با دقت وارد کنید
گزارش خطا
پیشنهاد