نمایش منو
صفحه اصلی
جستجوی پیشرفته
فهرست کتابخانه ها
عنوان
Characterization of microstructures by analytical electron microscopy (AEM)
پدید آورنده
/ Yonghua Rong
موضوع
Nanostructured materials - Nondestructive testing,Electron microscopy
رده
TA417
.
23
.
R66
2012
کتابخانه
کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد و انتشارات دانشگاه تبریز
محل استقرار
استان:
آذربایجان شرقی
ـ شهر:
تبریز
تماس با کتابخانه :
04133294120
-
04133294118
شابک
شابک
9783642201189
شماره کتابشناسی ملی
کد کشور
IR
شماره
92-4964
زبان اثر
زبان متن نوشتاري يا گفتاري و مانند آن
انگلیسی
کشور محل نشر یا تولید
کشور محل نشر
IR
عنوان و نام پديدآور
عنوان اصلي
Characterization of microstructures by analytical electron microscopy (AEM)
نام عام مواد
[Book]
نام نخستين پديدآور
/ Yonghua Rong
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
Heidelberg ; New York
نام ناشر، پخش کننده و غيره
: Springer
تاریخ نشرو بخش و غیره
, 2012.
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
xviii, 552 p.
ساير جزييات
: ill
ابعاد
; 24cm
يادداشت کلی
متن يادداشت
Language: انگلیسی
یادداشتهای مربوط به نشر، بخش و غیره
متن يادداشت
Print
یادداشتهای مربوط به کتابنامه ، واژه نامه و نمایه های داخل اثر
متن يادداشت
Includes bibliographical references and index
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
موضوع مستند نشده
Nanostructured materials - Nondestructive testing
موضوع مستند نشده
Electron microscopy
رده بندی کنگره
شماره رده
TA417
.
23
نشانه اثر
.
R66
2012
نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )
مستند نام اشخاص تاييد نشده
Rong, Yonghua
مبدا اصلی
کشور
ایران
وضعیت فهرست نویسی
وضعیت فهرست نویسی
old catalog
وضعیت انتشار
فرمت انتشار
p
اطلاعات رکورد کتابشناسی
نوع ماده
BL
پیشوند ISBD اعمال شده است
1
اطلاعات دسترسی رکورد
سطح دسترسي
a
تكميل شده
Y
پیشنهاد / گزارش اشکال
×
پیشنهاد / گزارش اشکال
×
اخطار!
اطلاعات را با دقت وارد کنید
گزارش خطا
پیشنهاد