شابک
شابک
9783642365355
شماره کتابشناسی ملی
کد کشور
IR
شماره
EN-54729
زبان اثر
زبان متن نوشتاري يا گفتاري و مانند آن
انگلیسی
کشور محل نشر یا تولید
کشور محل نشر
IR
عنوان و نام پديدآور
عنوان اصلي
High Permittivity Gate Dielectric Material
نام عام مواد
[Book]
نام نخستين پديدآور
/ edited by Samares Kar
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
Berlin, Heidelberg
نام ناشر، پخش کننده و غيره
: Springer Berlin Heidelberg :Imprint: Springer,
تاریخ نشرو بخش و غیره
, 2013.
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
XXXII, 489 p. 325 illus., 168 illus. in color., online resource.
فروست
عنوان فروست
(Springer Series in Advanced Microelectronics,1437-0387
مشخصه جلد
; 43)
یادداشتهای مربوط به نشر، بخش و غیره
متن يادداشت
Electronic
یادداشتهای مربوط به مندرجات
متن يادداشت
"The book comprehensively covers all the current and the emerging areas of the physics and the technology of high permittivity gate dielectric materials, including, topics such as MOSFET basics and characteristics, hafnium-based gate dielectric materials, Hf-based gate dielectric processing, metal gate electrodes, flat-band and threshold voltage tuning, channel mobility, high-k gate stack degradation and reliability, lanthanide-based high-k gate stack materials, ternary hafnia and lanthania based high-k gate stack films, crystalline high-k oxides, high mobility substrates, and parameter extraction. Each chapter begins with the basics necessary for understanding the topic, followed by a comprehensive review of the literature, and ultimately graduating to the current status of the technology and our scientific understanding and the future prospects."
متن يادداشت
Historical Perspectives -- High Mobility Channels -- Non-Volatile Memory -- Hafnium-Based Gate Dielectric Materials -- Lanthanum-Based High-K Gate Dielectric Materials -- Crystalline High-K Gate Dielectric Materials -- High-K Gate Dielectric Processing.-Metal Gate Electrodes -- Flat-Band/Threshold Voltage Control -- Interfaces and Defects -- Electrical Characterization and Parameter Extraction -- Non-Contact Metrology of High-K Gate Dielectrics -- Channel Mobility -- High-K Gate Dielectric Reliability Issues -- Bias Temperature Instability -- Integration Issues. .
فروست (داده ارتباطی)
عنوان
Springer Series in Advanced Microelectronics,1437-0387
شماره جلد
43
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
موضوع مستند نشده
Engineering
موضوع مستند نشده
Electronics
موضوع مستند نشده
Optical materials
موضوع مستند نشده
Electronic books
رده بندی کنگره
شماره رده
E-BOOK
نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )
مستند نام اشخاص تاييد نشده
Kar, Samares.
نام شخص - ( مسئولیت معنوی درجه دوم )
مستند نام اشخاص تاييد نشده
SpringerLink (Online service)
مبدا اصلی
کشور
ایران
دسترسی و محل الکترونیکی
نام ميزبان
9783642365348.pdf
شماره دسترسي
عادی
اطلاعات مختصر
عادی
تاريخ و ساعت مذاکره و دسترسي
9783642365348.pdf
نوع فرمت الکترونيکي
متن
وضعیت فهرست نویسی
وضعیت فهرست نویسی
old catalog
وضعیت انتشار
فرمت انتشار
e
اطلاعات رکورد کتابشناسی
نوع ماده
BL
پیشوند ISBD اعمال شده است
1
اطلاعات دسترسی رکورد
سطح دسترسي
a
تكميل شده
Y
