نمایش منو
صفحه اصلی
جستجوی پیشرفته
فهرست کتابخانه ها
درباره پایگاه
ارتباط با ما
تاریخچه
ورود / ثبت نام
عنوان
Microelectronic test structures for CMOS technolog
پدید آورنده
/ Manjul Bhushan, Mark B. Ketchen
موضوع
Metal oxide semiconductors, Complementary, Testing,Electronic books., local
رده
TK7871
.
99
.
M44
,
B48
2011
کتابخانه
کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند
محل استقرار
استان:
آذربایجان شرقی
ـ شهر:
سهند
تماس با کتابخانه :
04133443834
شابک
شابک
9781441993779 (electronic bk.)
شماره کتابشناسی ملی
کد کشور
IR
شماره
E-5967
زبان اثر
زبان متن نوشتاري يا گفتاري و مانند آن
انگلیسی
کشور محل نشر یا تولید
کشور محل نشر
IR
عنوان و نام پديدآور
عنوان اصلي
Microelectronic test structures for CMOS technolog
نام عام مواد
[Book]
نام نخستين پديدآور
/ Manjul Bhushan, Mark B. Ketchen
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
New York
نام ناشر، پخش کننده و غيره
: Springer,
تاریخ نشرو بخش و غیره
, c2011.
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
1 online resource (xxxiv, 373 p.)
یادداشتهای مربوط به نشر، بخش و غیره
متن يادداشت
Print
یادداشتهای مربوط به کتابنامه ، واژه نامه و نمایه های داخل اثر
متن يادداشت
Includes bibliographical references and index.
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
موضوع مستند نشده
Metal oxide semiconductors, Complementary, Testing
موضوع مستند نشده
Electronic books., local
رده بندی ديویی
شماره
621
.
3815
.
2
رده بندی کنگره
شماره رده
TK7871
.
99
نشانه اثر
.
M44
,
B48
2011
نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )
مستند نام اشخاص تاييد نشده
Bhushan, Manjul.
نام شخص - ( مسئولیت معنوی درجه دوم )
مستند نام اشخاص تاييد نشده
Ketchen, Mark B
مستند نام اشخاص تاييد نشده
SpringerLink (Online service)
مبدا اصلی
کشور
ایران
وضعیت فهرست نویسی
وضعیت فهرست نویسی
old catalog
وضعیت انتشار
فرمت انتشار
p
اطلاعات رکورد کتابشناسی
نوع ماده
BL
پیشوند ISBD اعمال شده است
1
اطلاعات دسترسی رکورد
سطح دسترسي
a
تكميل شده
Y
پیشنهاد / گزارش اشکال
×
پیشنهاد / گزارش اشکال
×
اخطار!
اطلاعات را با دقت وارد کنید
گزارش خطا
پیشنهاد