عنوان
پدید آورنده
موضوع
رده
TK7874.58 .B69 2006
TK7874
.
58
.
B69
2006
کتابخانه
محل استقرار
شابک
شابک
0849339286
شماره کتابشناسی ملی
کد کشور
IR
شماره
EB10682
زبان اثر
زبان متن نوشتاري يا گفتاري و مانند آن
انگلیسی
کشور محل نشر یا تولید
کشور محل نشر
IR
عنوان و نام پديدآور
عنوان اصلي
X-ray metrology in semiconductor manufacturing
نام عام مواد
[Electronic Resource]
نام نخستين پديدآور
/ D. Keith Bowen, Brian K. Tanner
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
Boca Raton
نام ناشر، پخش کننده و غيره
: CRC/Taylor & Francis,
تاریخ نشرو بخش و غیره
, 2006.
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
279 p. ill. 25 cm.
یادداشتهای مربوط به نشر، بخش و غیره
متن يادداشت
e
یادداشتهای مربوط به کتابنامه ، واژه نامه و نمایه های داخل اثر
متن يادداشت
ng
متن يادداشت
Includes bibliographical references and index.
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
موضوع مستند نشده
Semiconductors- Design and construction- Quality control
موضوع مستند نشده
Integrated circuits- Measurement
موضوع مستند نشده
Semiconductor wafers- Inspection
موضوع مستند نشده
X-rays- Diffraction
موضوع مستند نشده
Fluroscopy
رده بندی ديویی
شماره
621
.
3815
.
2
رده بندی کنگره
شماره رده
TK7874
.
58
نشانه اثر
.
B69
2006
نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )
مستند نام اشخاص تاييد نشده
Bowen, D. Keith(David Keith),1940-
نام شخص - ( مسئولیت معنوی درجه دوم )
مستند نام اشخاص تاييد نشده
Tanner, B. K.(Brian Keith)
مبدا اصلی
کشور
ایران
دسترسی و محل الکترونیکی
نام ميزبان
0849339286.pdf
شماره دسترسي
محرمانه
اطلاعات مختصر
محرمانه
تاريخ و ساعت مذاکره و دسترسي
0849339286.pdf
بيت در ثانيه
0
نوع فرمت الکترونيکي
متن
وضعیت فهرست نویسی
وضعیت فهرست نویسی
old catalog
وضعیت انتشار
فرمت انتشار
e
اطلاعات رکورد کتابشناسی
نوع ماده
BL
پیشوند ISBD اعمال شده است
1
اطلاعات دسترسی رکورد
سطح دسترسي
a
تكميل شده
Y
