عنوان
پدید آورنده
موضوع
رده
TK 7871.852 .F35 1999
TK
7871
.
852
.
F35
1999
کتابخانه
محل استقرار
اطلاعات محلی رکورد
نوع مدرک
CE R1
عنوان و نام پديدآور
عنوان اصلي
Failure analysis of integrated circuits : tools and techniques
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
Boston, Mass.
نام ناشر، پخش کننده و غيره
Kluwer Academic Publishers
تاریخ نشرو بخش و غیره
1999
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
ix, 255 p.: ill
يادداشت کلی
متن يادداشت
"SECS 494"--p. ]4[ of cover
متن يادداشت
Includes bibliographies and index
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
عنصر شناسه ای
Semiconductors - Failures
عنصر شناسه ای
Integrated circuits - Testing
عنصر شناسه ای
Integrated circuits - Reliability
رده بندی کنگره
شماره رده
TK
نشانه اثر
7871
.
852
شماره رکورد رده بندي
.
F35
شماره رکورد غير از شماره رده بندي
1999
نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )
کد نقش
TI
عنصر شناسه اي
edited by Lawrence C. Wagner
