عنوان
پدید آورنده
موضوع
رده
TK 7874.75 .M26 1995
TK
7874
.
75
.
M26
1995
کتابخانه
محل استقرار
اطلاعات محلی رکورد
نوع مدرک
CE
عنوان و نام پديدآور
عنوان اصلي
Manufacturing yield evaluation of VLSI/WSI systems
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
Los Alamitos, CA
نام ناشر، پخش کننده و غيره
IEEE Computer Society Press
تاریخ نشرو بخش و غیره
1995
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
x, 437 p. : ill
يادداشت کلی
متن يادداشت
Includes bibliographical references
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
عنصر شناسه ای
Integrated circuits - Very large scale integration - Design and construction - Data processing
عنصر شناسه ای
Integrated circuits - Wafer-scale integration - Design and construction - Data processing
عنصر شناسه ای
Integrated circuits - Very large scale integration - Reliability
عنصر شناسه ای
Integrated circuits - Wafer-scale integration - Reliability
عنصر شناسه ای
Fault-tolerant computing
رده بندی کنگره
شماره رده
TK
نشانه اثر
7874
.
75
شماره رکورد رده بندي
.
M26
شماره رکورد غير از شماره رده بندي
1995
نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )
کد نقش
TI
عنصر شناسه اي
]edited by[ Bruno Ciciani
شماره دستیابی
نحوه قرار گرفتن مدرك روي قفسه
English
