عنوان
پدید آورنده
موضوع
رده
TK 7874 .A23
TK
7874
.
A23
کتابخانه
محل استقرار
اطلاعات محلی رکورد
نوع مدرک
CE E1 O1 R1
عنوان و نام پديدآور
نام نخستين پديدآور
Abramovici, Miron.
عنوان اصلي
Digital systems testing and testable design
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
New York, NY
نام ناشر، پخش کننده و غيره
IEEE Press
تاریخ نشرو بخش و غیره
1990
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
xxi, 653 p. : ill
فروست
عنوان فروست
Electrical engineering, communications, and signal processing
يادداشت کلی
متن يادداشت
Includes bibliographical references )p. 644-645( and index
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
عنصر شناسه ای
Digital integrated circuits - Testing
عنصر شناسه ای
Digital integrated circuits - Design and construction
رده بندی کنگره
شماره رده
TK
نشانه اثر
7874
شماره رکورد رده بندي
.
A23
نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )
کد نقش
AU
عنصر شناسه اي
Miron Abramovici, Melvin A. Breuer, Arthur D. Friedman
شماره دستیابی
نحوه قرار گرفتن مدرك روي قفسه
English
