عنوان
پدید آورنده
موضوع
رده
TK 7874 .J34
TK
7874
.
J34
کتابخانه
محل استقرار
اطلاعات محلی رکورد
نوع مدرک
E1
عنوان و نام پديدآور
نام نخستين پديدآور
Jakubowski, Andrzej
عنوان اصلي
Diagnostic measurements in LSI/VLSI integrated circuits production
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
Singapore
نام ناشر، پخش کننده و غيره
World Scientific
تاریخ نشرو بخش و غیره
1991
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
xv,356 p. : ill
فروست
عنوان فروست
Advanced series in electrical and computer engineering, Vol. 7
يادداشت کلی
متن يادداشت
Includes bibliographies
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
عنصر شناسه ای
Integrated circuits - Very large scale integration - Design and construction
عنصر شناسه ای
Integrated circuits - Very large scale integration - Testing
رده بندی کنگره
شماره رده
TK
نشانه اثر
7874
شماره رکورد رده بندي
.
J34
نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )
کد نقش
AU
عنصر شناسه اي
Andrzej Jakubowski, Wieslaw Marciniak, Henryk M. Przewlocki
شماره دستیابی
نحوه قرار گرفتن مدرك روي قفسه
English
اطلاعات رکورد کتابشناسی
نوع ماده
Book
