نمایش منو
صفحه اصلی
جستجوی پیشرفته
فهرست کتابخانه ها
عنوان
Design & test techniques for VLSI & WSI circuits
پدید آورنده
edited by R.E. Massara
موضوع
Very large scale integration -- Design and construction ، Integrated circuits,Very large scale integration -- Testing ، Integrated circuits,Wafer-scale integration -- Design and construction ، Integrated circuits,Wafer-scale integration -- Testing ، Integrated circuits
رده
TK
7874
.
D4749
1989
کتابخانه
کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه حکیم سبزواری
محل استقرار
استان:
خراسان رضوی
ـ شهر:
سبزوار
تماس با کتابخانه :
44012672
-
051
شناسگر استاندارد دیگر
شماره استاندارد
6572
زبان اثر
زبان متن نوشتاري يا گفتاري و مانند آن
English
عنوان و نام پديدآور
عنوان اصلي
Design & test techniques for VLSI & WSI circuits
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
London
نام ناشر، پخش کننده و غيره
P. Peregrinus on behalf of the Institution of Electrical Engineers
تاریخ نشرو بخش و غیره
9891c
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
vi, 315 p.: ill. ; 24 cm.
فروست
عنوان فروست
IEE computing series; 51
يادداشت کلی
متن يادداشت
Includes bibliographical references and index
یادداشتهای مربوط به عنوان و پدیدآور
متن يادداشت
edited by R.E. Massara
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
عنصر شناسه ای
Very large scale integration -- Design and construction ، Integrated circuits
عنصر شناسه ای
Very large scale integration -- Testing ، Integrated circuits
عنصر شناسه ای
Wafer-scale integration -- Design and construction ، Integrated circuits
عنصر شناسه ای
Wafer-scale integration -- Testing ، Integrated circuits
رده بندی ديویی
شماره
5/183
.
126
رده بندی کنگره
شماره رده
TK
7874
.
D4749
1989
نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )
کد نقش
TI
نام / عنوان به منزله شناسه افزوده
عنصر شناسه اي
AU Massara, R. E 1947-
عنصر شناسه اي
CO Institution of Electrical Engineers
عنصر شناسه اي
TI Design and test techniques for VLSI & WSI circuits
عنصر شناسه اي
SE
پیشنهاد / گزارش اشکال
×
پیشنهاد / گزارش اشکال
×
اخطار!
اطلاعات را با دقت وارد کنید
گزارش خطا
پیشنهاد