عنوان
پدید آورنده
موضوع
رده
TK7871.85. G32 2000
TK7871
.
85
.
G32
2000
کتابخانه
محل استقرار
شابک
شابک
0803126158
شابک
9780803126152
شماره کتابشناسی ملی
شماره
b718277
عنوان و نام پديدآور
عنوان اصلي
Gate dielectric integrity :
نام عام مواد
[Book]
ساير اطلاعات عنواني
material, process, and tool qualification /
نام نخستين پديدآور
Dinesh C. Gupta and George A. Brown, editors.
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
West Conshocken, Pa. :
نام ناشر، پخش کننده و غيره
ASTM,
تاریخ نشرو بخش و غیره
©2000.
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
xi, 169 pages :
ساير جزييات
illustrations ;
ابعاد
23 cm.
فروست
عنوان فروست
STP ;
مشخصه جلد
1382
يادداشت کلی
متن يادداشت
Conference on Gate Dielectric Integrity, held Jan. 25, 1999, San Jose, Calif.
یادداشتهای مربوط به کتابنامه ، واژه نامه و نمایه های داخل اثر
متن يادداشت
Includes bibliographical references.
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
موضوع مستند نشده
Dielectrics-- Testing.
موضوع مستند نشده
Gate array circuits-- Materials.
موضوع مستند نشده
Integrated circuits-- Wafer-scale integration-- Reliability.
موضوع مستند نشده
Semiconductor wafers-- Reliability.
موضوع مستند نشده
Silicon oxide films-- Testing.
موضوع مستند نشده
Dielectrics-- Testing.
موضوع مستند نشده
Gate array circuits-- Materials.
موضوع مستند نشده
Integrated circuits-- Wafer-scale integration-- Reliability.
موضوع مستند نشده
Semiconductor wafers-- Reliability.
رده بندی ديویی
شماره
621
.
3815/2
ويراست
21
رده بندی کنگره
شماره رده
TK7871
.
85
.
نشانه اثر
G32
2000
نام شخص - (مسئولیت معنوی برابر )
مستند نام اشخاص تاييد نشده
Brown, George A.,1937-
مستند نام اشخاص تاييد نشده
Gupta, D. C., (Dinesh C.)
نام تنالگان _ (مسئولیت معنوی برابر)
مستند نام تنالگان تاييد نشده
Conference on Gate Dielectric Integrity(1999 :, San Jose, Calif.)
مبدا اصلی
تاريخ عمليات
20201208102550.0
دسترسی و محل الکترونیکی
نام الکترونيکي
مطالعه متن کتاب اطلاعات رکورد کتابشناسی
نوع ماده
[Book]
اطلاعات دسترسی رکورد
تكميل شده
Y
