عنوان

Optical characterization of thin solid films /

شابک

3030092003

شابک

3319753258

شابک

3319753266

شابک

9783030092009

شابک

9783319753256

شابک

9783319753263

شابک اشتباه

331975324X

شابک اشتباه

9783319753249

عنوان اصلي

Optical characterization of thin solid films /

نام عام مواد

[Book]

نام نخستين پديدآور

edited by Olaf Stenzel, Miloslav Ohlídal, editors.

محل نشرو پخش و غیره

Cham, Switzerland :

نام ناشر، پخش کننده و غيره

Springer,

تاریخ نشرو بخش و غیره

2018.

نام خاص و کميت اثر

1 online resource

عنوان فروست

Springer series in surface sciences,

مشخصه جلد

volume 64

شاپا ي ISSN فروست

2198-4743 ;

متن يادداشت

Includes bibliographical references and index.

متن يادداشت

Introduction and modelling activities -- Optical film characterization topics: An overview -- Universal dispersion model for characterization of optical thin films over wide spectral range -- Predicting optical properties of oxides from ab initio calculations -- Spectrophotometry and spectral ellipsometry -- Optical characterization of thin films by means of spectroscopic imaging spectrophotometry -- Data processing methods for imaging spectrophotometry -- In-situ and ex-situ spectrophotometry in thin film characterization -- Ellipsometric characterization of thin solid films -- Characterization of defective and corrugated coatings -- Optical characterization of thin films exhibiting defects -- Scanning probe microscopy characterization of optical thin films -- Resonant grating waveguide structures -- Absorption and scatter -- Roughness and scatter in optical coatings -- Absorption and fluorescence measurements in optical coatings -- Cavity ring-down technique for optical coating characterization.

بدون عنوان

0

متن يادداشت

This book is an up-to-date survey of the major optical characterization techniques for thin solid films. Emphasis is placed on practicability of the various approaches. Relevant fundamentals are briefly reviewed before demonstrating the application of these techniques to practically relevant research and development topics. The book is written by international top experts, all of whom are involved in industrial research and development projects.

منبع سفارش / آدرس اشتراک

Springer Nature

شماره انبار

com.springer.onix.9783319753256

عنوان

Optical characterization of thin solid films.

شماره استاندارد بين المللي کتاب و موسيقي

331975324X

موضوع مستند نشده

Thin films-- Optical properties.

موضوع مستند نشده

Condensed matter physics (liquid state & solid state physics)

موضوع مستند نشده

Electronic devices & materials.

موضوع مستند نشده

Materials science.

موضوع مستند نشده

Spectrum analysis, spectrochemistry, mass spectrometry.

موضوع مستند نشده

TECHNOLOGY & ENGINEERING-- Mechanical.

موضوع مستند نشده

Testing of materials.

موضوع مستند نشده

Thin films-- Optical properties.

موضوع مستند نشده

PHFC

موضوع مستند نشده

PHFC

موضوع مستند نشده

TEC-- 009070

شماره

ويراست

شماره رده

مستند نام اشخاص تاييد نشده

Ohlídal, Miloslav

مستند نام اشخاص تاييد نشده

Stenzel, O., (Olaf)

تاريخ عمليات

20200823105817.0

قواعد فهرست نويسي ( بخش توصيفي )

pn

نام الکترونيکي

نوع ماده

[Book]

تكميل شده

Y