یادداشتهای مربوط به کتابنامه ، واژه نامه و نمایه های داخل اثر
متن يادداشت
Includes bibliographical references and index
یادداشتهای مربوط به مندرجات
متن يادداشت
Basis and limitations of typical current reliability methods & metrics -- The need for reliability assurance metrics to change -- Challenges to advancing electronics reliability engineering -- A new deterministic reliability development paradigm -- Common understanding of HALT approach is critical for success -- The fundamentals of HALT -- Highly accelerated stress screening (HALT) and audits (HASA) -- HALT benefits for software/firmware performance and reliability -- Quantitative accelerated life test -- Failure analysis and corrective action -- Additional applications of HALT methods
بدون عنوان
0
ویراست دیگر از اثر در قالب دیگر رسانه
عنوان
Next generation HALT and HASS
شماره استاندارد بين المللي کتاب و موسيقي
9781118700235
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
موضوع مستند نشده
Accelerated life testing.
موضوع مستند نشده
Electronic systems-- Design and construction.
موضوع مستند نشده
Electronic systems-- Testing.
مقوله موضوعی
موضوع مستند نشده
TEC-- 009070
رده بندی ديویی
شماره
621
.
381028/7
ويراست
23
رده بندی کنگره
شماره رده
TA169
.
3
نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )