عنوان
پدید آورنده
موضوع
رده
کتابخانه
محل استقرار
شابک
شابک
0871708639
شابک
9780871708632
شماره کتابشناسی ملی
شماره
dltt
عنوان و نام پديدآور
عنوان اصلي
ISTFA 2007 :
نام عام مواد
[Book]
ساير اطلاعات عنواني
proceedings of the 33rd International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 4-8, 2007, San Jose McEnery Convention Center, San Jose, California, USA /
نام نخستين پديدآور
sponsored by EDFAS--Electronic Device Failure Analysis Society, ISTFA/2007, ASM International
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
Materials Park, Ohio :
نام ناشر، پخش کننده و غيره
ASM International,
تاریخ نشرو بخش و غیره
c2007
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
xvi, 356 p. :
ساير جزييات
ill. :
ابعاد
28 cm. +
مواد همراه اثر
1 CD-ROM
یادداشتهای مربوط به کتابنامه ، واژه نامه و نمایه های داخل اثر
متن يادداشت
Includes bibliographical references and index
عنوان اصلی به زبان دیگر
عنوان اصلي به زبان ديگر
Thirty-third International Symposium for Testing and Failure Analysis
عنوان اصلي به زبان ديگر
33rd International Symposium for Testing and Failure Analysis
عنوان اصلي به زبان ديگر
Proceedings of the 33rd International Symposium for Testing and Failure Analysis
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
موضوع مستند نشده
Electronic apparatus and appliances-- Testing, Congresses
موضوع مستند نشده
Electronics-- Materials-- Testing, Congresses
نام تنالگان به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )
مستند نام تنالگان تاييد نشده
International Symposium for Testing and Failure Analysis(33rd :2007 :, San Jose, Calif.)
نام تنالگان _ (مسئولیت معنوی برابر)
مستند نام تنالگان تاييد نشده
ASM International
مستند نام تنالگان تاييد نشده
Electronic Device Failure Analysis Society
مبدا اصلی
تاريخ عمليات
20080416144428.0
دسترسی و محل الکترونیکی
نام الکترونيکي
مطالعه متن کتاب اطلاعات رکورد کتابشناسی
نوع ماده
[Book]
اطلاعات دسترسی رکورد
تكميل شده
Y
