conference proceedings from the 30th International Symposium for Testing and Failure Analysis, 14-18 November 2004
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
Materials Park, Ohio :
نام ناشر، پخش کننده و غيره
ASM International,
تاریخ نشرو بخش و غیره
2004
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
1 computer optical disc :
ساير جزييات
col. ;
ابعاد
4 3/4 in
محدوده خاص منابع : ویژگیهای منابع الکترونیکی
وجه تسميه و کميت فايل
Electronic data
يادداشت کلی
متن يادداشت
Title from disc label
یادداشتهای مربوط به کتابنامه ، واژه نامه و نمایه های داخل اثر
متن يادداشت
Includes bibliographical references and index
یادداشتهای مربوط به خلاصه یا چکیده
متن يادداشت
Contains complete text of the conference proceedings
یادداشتهای مربوط به نیازمندی های سیستم (منابع الکترونیک)و جزئیات فنی
متن يادداشت
System requirements (Macintosh): Power PC processor; 64MB of RAM; Mac OS 8.6, 9.0.4, 9.1 or Mac OS X; 24MB of available hard-disk space, additional 70MB of hard-disk space for Asian fonts (optional); CD-ROM drive
متن يادداشت
System requirements (Windows): IBM PC or compatible with Pentium class processor; 64MB of RAM; Windows 98 2nd edition, Windows Millennium edition, Windows NT 4.0 with Service Pack 5 or 6 (Service Pack 6 recommended), Windows 2000, Windows XP Professional or Home Edition; 30MB of available hard disk space (an additional 60MB is needed temporarily during installation), additional 70MB of hard-disk space for Asian fonts (optional); CD-ROM drive
عنوان اصلی به زبان دیگر
عنوان اصلي به زبان ديگر
Proceedings of the 30th International Symposium for Testing and Failure Analysis, 14-18 November 2004
عنوان اصلي به زبان ديگر
Conference proceedings from the 30th International Symposium for Testing and Failure Analysis
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
موضوع مستند نشده
Electronic apparatus and appliances-- Testing, Congresses
موضوع مستند نشده
Electronics-- Materials-- Testing, Congresses
رده بندی کنگره
شماره رده
TK7871
نشانه اثر
.
I48
2004
نام تنالگان به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )
مستند نام تنالگان تاييد نشده
International Symposium for Testing and Failure Analysis(30th :2004 :, Worcester, Mass.)