proceedings of the 23rd International Symposium for Testing and Failure Analysis : 27-31 October, 1997, Santa Clara Convention center, Santa Clara, California /
نام نخستين پديدآور
sponsored by ASM International.
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
Materials Park, OH :
نام ناشر، پخش کننده و غيره
ASM International,
تاریخ نشرو بخش و غیره
c1997.
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
xix, 346 p. :
ساير جزييات
ill.
يادداشت کلی
متن يادداشت
"Manager of Book Production Grace M. Davidson."
یادداشتهای مربوط به کتابنامه ، واژه نامه و نمایه های داخل اثر
متن يادداشت
Includes bibliographic references and index.
عنوان اصلی به زبان دیگر
عنوان اصلي به زبان ديگر
23rd international symposium for testing and failure analysis
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
موضوع مستند نشده
Electronic apparatus and appliances-- Testing, Congresses.
موضوع مستند نشده
Electronics-- Materials-- Testing, Congresses.
نام شخص - (مسئولیت معنوی برابر )
مستند نام اشخاص تاييد نشده
Davidson, Grace M.
نام تنالگان به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )
مستند نام تنالگان تاييد نشده
International Symposium for Testing and Failure Analysis(23rd :1997 :, Santa Clara, Calif.)