عنوان
پدید آورنده
موضوع
رده
E-Book ,
E-Book
,
کتابخانه
محل استقرار
شابک
شابک
9789400776623
شماره کتابشناسی ملی
شماره
39769
زبان اثر
زبان متن نوشتاري يا گفتاري و مانند آن
انگلیسی
عنوان و نام پديدآور
عنوان اصلي
Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications
نام عام مواد
[electronic resources]
نام نخستين پديدآور
Jacopo Franco • Ben Kaczer ,Guido Groeseneken
وضعیت نشر و پخش و غیره
تاریخ نشرو بخش و غیره
Dordrecht : Springer, 2014.
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
xix, 187p.
ساير جزييات
ill.
فروست
عنوان فروست
Springer Series in Advanced Microelectronics 47
یادداشتهای مربوط به کتابنامه ، واژه نامه و نمایه های داخل اثر
متن يادداشت
Bibliography
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
موضوع مستند نشده
Metal oxide semiconductor field-effect transistors > Reliability. Metal oxide semiconductors, Complementary > Reliability.
رده بندی کنگره
شماره رکورد غير از شماره رده بندي
E-Book
,
نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )
مستند نام اشخاص تاييد نشده
Franco, Jacopo, author. Contributor Kaczer, Ben, author. Groeseneken, Guido, author.
مبدا اصلی
کشور
ایران
دسترسی و محل الکترونیکی
نام الکترونيکي
مطالعه متن کتاب اطلاعات رکورد کتابشناسی
نوع ماده
BL
کد کاربرگه
279177
اطلاعات دسترسی رکورد
سطح دسترسي
a
تكميل شده
N
