نمایش منو
صفحه اصلی
جستجوی پیشرفته
فهرست کتابخانه ها
عنوان
Run-to-run control in semiconductor manufacturing
پدید آورنده
edited by James Moyne, Enrique del Castillo, Arnon Max Hurwitz
موضوع
Design and construction ، Semiconductors,Production control ، Semiconductor industry,، Electronic packaging,، Production management
رده
TK
7871
.
85
.
R863
2001
کتابخانه
کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی
محل استقرار
استان:
تهران
ـ شهر:
تهران
تماس با کتابخانه :
46831570
-
021
شناسگر استاندارد دیگر
شماره استاندارد
electronic
عنوان و نام پديدآور
عنوان اصلي
Run-to-run control in semiconductor manufacturing
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
Boca Raton
نام ناشر، پخش کننده و غيره
CRC Press
تاریخ نشرو بخش و غیره
2001
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
348 p. : ill. ; 24 cm
يادداشت کلی
متن يادداشت
Includes bibliographical references and index
یادداشتهای مربوط به عنوان و پدیدآور
متن يادداشت
edited by James Moyne, Enrique del Castillo, Arnon Max Hurwitz
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
عنصر شناسه ای
Design and construction ، Semiconductors
عنصر شناسه ای
Production control ، Semiconductor industry
عنصر شناسه ای
، Electronic packaging
عنصر شناسه ای
، Production management
رده بندی کنگره
شماره رده
TK
7871
.
85
.
R863
2001
نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )
کد نقش
TI
نام / عنوان به منزله شناسه افزوده
عنصر شناسه اي
AU Moyne, James
عنصر شناسه اي
AU Del Castillo, Enrique
عنصر شناسه اي
AU Hurwitz, Arnon Max
پیشنهاد / گزارش اشکال
×
پیشنهاد / گزارش اشکال
×
اخطار!
اطلاعات را با دقت وارد کنید
گزارش خطا
پیشنهاد