عنوان
پدید آورنده
موضوع
رده
TK 7871.852 .F35 1999
TK
7871
.
852
.
F35
1999
کتابخانه
محل استقرار
شناسگر استاندارد دیگر
شماره استاندارد
electronic
عنوان و نام پديدآور
عنوان اصلي
Failure analysis of integrated circuits :tools and techniques
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
Boston, Mass.
نام ناشر، پخش کننده و غيره
Kluwer Academic Publishers
تاریخ نشرو بخش و غیره
c1999
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
ix, 255 p. : ill. ; 25 cm.
يادداشت کلی
متن يادداشت
"SECS 494"--P. ]4[ of cover
متن يادداشت
Includes bibliographical references and index
یادداشتهای مربوط به عنوان و پدیدآور
متن يادداشت
edited by Lawrence C. Wagner
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
عنصر شناسه ای
Failures ، Semiconductors
عنصر شناسه ای
Testing ، Integrated circuits
عنصر شناسه ای
Reliability ، Integrated circuits
رده بندی کنگره
شماره رده
TK
7871
.
852
.
F35
1999
نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )
کد نقش
TI
نام / عنوان به منزله شناسه افزوده
عنصر شناسه اي
AU Wagner, Lawrence C
