Fringe pattern analysis for optical metrology theory ,algorithms,and applications
نام نخستين پديدآور
Graeme T. Reid, chair/editor ; sponsored by SPIE--the International Society for Optical Engineering ; cooperating organizations, Applied Optics Laboratory/New Mexico State University.
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
Bellingham, Wash., USA
نام ناشر، پخش کننده و غيره
SPIE
تاریخ نشرو بخش و غیره
2014
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
327
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
عنصر شناسه ای
Diffraction patterns
عنصر شناسه ای
Interferometry
عنصر شناسه ای
Image processing
رده بندی کنگره
شماره رده
QC
نشانه اثر
415
شماره رکورد رده بندي
.
F88
شماره رکورد غير از شماره رده بندي
1989
نام شخص - (مسئولیت معنوی برابر )
عنصر شناسه اي
"Papers presented at the First SPIE Conference on Fringe Pattern Analysis"--Introd