شناسگر استاندارد دیگر
شماره استاندارد
16261
شماره استاندارد
16340
عنوان و نام پديدآور
نام نخستين پديدآور
Snyder, Robert L.
عنوان اصلي به قلم نويسنده ديگر
1491-
عنوان اصلي
Defect and microstructure analysis by diffraction
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
Oxford ; New York
نام ناشر، پخش کننده و غيره
Oxford University Press
تاریخ نشرو بخش و غیره
1999
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
xxii, 785 p. : ill
فروست
عنوان فروست
International Union of Crystallography monographs on crystallography
شاپا ي ISSN فروست
10
يادداشت کلی
متن يادداشت
Includes bibliographical references and index
یادداشتهای مربوط به عنوان و پدیدآور
متن يادداشت
Robert L. Snyder, Jaroslav Fiala, and Hans J. Bunge
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
عنصر شناسه ای
Defects -- Analysis ، Crystals
عنصر شناسه ای
، Diffraction
عنصر شناسه ای
، X-ray crystallography
رده بندی ديویی
شماره
548/
.
83
رده بندی کنگره
شماره رده
QD
945
.
S58
1999
نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )
کد نقش
AU
نام / عنوان به منزله شناسه افزوده
عنصر شناسه اي
AU Fiala, Jaroslav
عنصر شناسه اي
AU Bunge, Hans Joachim
عنصر شناسه اي
TI
عنصر شناسه اي
SE
شماره دستیابی
پسوند شماره بازيابي
CL
پسوند شماره بازيابي
CL
