شناسگر استاندارد دیگر
شماره استاندارد
19489
عنوان و نام پديدآور
عنوان اصلي
Tutorial test generation for VLSI chips
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
Washington, D.C.: Computer Society Press; Los Angeles, CA
نام ناشر، پخش کننده و غيره
Order from Computer Society
تاریخ نشرو بخش و غیره
c1988
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
x, 401p.: ill
يادداشت کلی
متن يادداشت
"Computer Society order number 786"
متن يادداشت
"IEEE Catalog number EHO278-2"
متن يادداشت
Bibliography: p. 333-394
متن يادداشت
Includes index
یادداشتهای مربوط به عنوان و پدیدآور
متن يادداشت
]edited by[ Vishwani D. Agrawal and Sharad C. Seth
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
عنصر شناسه ای
Very large scale integration - Testing ، Integrated circuits
عنصر شناسه ای
، Automatic checkout equipment
رده بندی کنگره
شماره رده
TK
7874
.
T8857
1988
نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )
کد نقش
TI
نام / عنوان به منزله شناسه افزوده
عنصر شناسه اي
AU Agrawal, Vishwani D. 1943-
عنصر شناسه اي
AU Seth, Sharad C.
عنصر شناسه اي
CO IEEE Computer Society
عنصر شناسه اي
TI Test generation for VLSI chips
شماره دستیابی
پسوند شماره بازيابي
CL
