• صفحه اصلی
  • جستجوی پیشرفته
  • فهرست کتابخانه ها
  • درباره پایگاه
  • ارتباط با ما
  • تاریخچه

عنوان
Defect and microstructure analysis by diffraction

پدید آورنده
Snyder, R. L. )Robert L.(

موضوع
Defects Analysis ، Crystals,، Diffraction,، X-ray crystallography

رده
QD
945
.
S58
1999

کتابخانه
کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی

محل استقرار
استان: تهران ـ شهر: تهران

کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی

تماس با کتابخانه : 46831570-021

شناسگر استاندارد دیگر

شماره استاندارد
electronic

عنوان و نام پديدآور

نام نخستين پديدآور
Snyder, R. L. )Robert L.(
عنوان اصلي به قلم نويسنده ديگر
1491-
عنوان اصلي
Defect and microstructure analysis by diffraction

وضعیت نشر و پخش و غیره

محل نشرو پخش و غیره
Oxford ; New York
نام ناشر، پخش کننده و غيره
Oxford University Press
تاریخ نشرو بخش و غیره
1999

مشخصات ظاهری

نام خاص و کميت اثر
xxii, 785 p. : ill. ; 24 cm

فروست

عنوان فروست
International Union of Crystallography monographs on crystallography ;01

يادداشت کلی

متن يادداشت
Includes bibliographical references and index

یادداشتهای مربوط به عنوان و پدیدآور

متن يادداشت
Robert L. Snyder, Jaroslav Fiala, and Hans J. Bunge

موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)

عنصر شناسه ای
Defects Analysis ، Crystals
عنصر شناسه ای
، Diffraction
عنصر شناسه ای
، X-ray crystallography

رده بندی کنگره

شماره رده
QD
945
.
S58
1999

نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )

کد نقش
AU

نام / عنوان به منزله شناسه افزوده

عنصر شناسه اي
AU Fiala, Jaroslav
عنصر شناسه اي
AU Bunge, H.-J.)Hans Joachim(
عنصر شناسه اي
TI
عنصر شناسه اي
SE

پیشنهاد / گزارش اشکال

اخطار! اطلاعات را با دقت وارد کنید
ارسال انصراف
این پایگاه با مشارکت موسسه علمی - فرهنگی دارالحدیث و مرکز تحقیقات کامپیوتری علوم اسلامی (نور) اداره می شود
مسئولیت صحت اطلاعات بر عهده کتابخانه ها و حقوق معنوی اطلاعات نیز متعلق به آنها است
برترین جستجوگر - پنجمین جشنواره رسانه های دیجیتال