نمایش منو
صفحه اصلی
جستجوی پیشرفته
فهرست کتابخانه ها
درباره پایگاه
ارتباط با ما
تاریخچه
عنوان
Defect and microstructure analysis by diffraction
پدید آورنده
Snyder, R. L. )Robert L.(
موضوع
Defects Analysis ، Crystals,، Diffraction,، X-ray crystallography
رده
QD
945
.
S58
1999
کتابخانه
کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی
محل استقرار
استان:
تهران
ـ شهر:
تهران
تماس با کتابخانه :
46831570
-
021
شناسگر استاندارد دیگر
شماره استاندارد
electronic
عنوان و نام پديدآور
نام نخستين پديدآور
Snyder, R. L. )Robert L.(
عنوان اصلي به قلم نويسنده ديگر
1491-
عنوان اصلي
Defect and microstructure analysis by diffraction
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
Oxford ; New York
نام ناشر، پخش کننده و غيره
Oxford University Press
تاریخ نشرو بخش و غیره
1999
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
xxii, 785 p. : ill. ; 24 cm
فروست
عنوان فروست
International Union of Crystallography monographs on crystallography ;01
يادداشت کلی
متن يادداشت
Includes bibliographical references and index
یادداشتهای مربوط به عنوان و پدیدآور
متن يادداشت
Robert L. Snyder, Jaroslav Fiala, and Hans J. Bunge
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
عنصر شناسه ای
Defects Analysis ، Crystals
عنصر شناسه ای
، Diffraction
عنصر شناسه ای
، X-ray crystallography
رده بندی کنگره
شماره رده
QD
945
.
S58
1999
نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )
کد نقش
AU
نام / عنوان به منزله شناسه افزوده
عنصر شناسه اي
AU Fiala, Jaroslav
عنصر شناسه اي
AU Bunge, H.-J.)Hans Joachim(
عنصر شناسه اي
TI
عنصر شناسه اي
SE
پیشنهاد / گزارش اشکال
×
پیشنهاد / گزارش اشکال
×
اخطار!
اطلاعات را با دقت وارد کنید
گزارش خطا
پیشنهاد