نمایش منو
صفحه اصلی
جستجوی پیشرفته
فهرست کتابخانه ها
عنوان
Defect and microstructure analysis by diffraction
پدید آورنده
Snyder, R. L. )Robert L.(
موضوع
Defects Analysis ، Crystals,، Diffraction,، X-ray crystallography
رده
QD
945
.
S58
1999
کتابخانه
کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی
محل استقرار
استان:
تهران
ـ شهر:
تهران
تماس با کتابخانه :
46831570
-
021
شناسگر استاندارد دیگر
شماره استاندارد
electronic
عنوان و نام پديدآور
نام نخستين پديدآور
Snyder, R. L. )Robert L.(
عنوان اصلي به قلم نويسنده ديگر
1491-
عنوان اصلي
Defect and microstructure analysis by diffraction
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
Oxford ; New York
نام ناشر، پخش کننده و غيره
Oxford University Press
تاریخ نشرو بخش و غیره
1999
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
xxii, 785 p. : ill. ; 24 cm
فروست
عنوان فروست
International Union of Crystallography monographs on crystallography ;01
يادداشت کلی
متن يادداشت
Includes bibliographical references and index
یادداشتهای مربوط به عنوان و پدیدآور
متن يادداشت
Robert L. Snyder, Jaroslav Fiala, and Hans J. Bunge
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
عنصر شناسه ای
Defects Analysis ، Crystals
عنصر شناسه ای
، Diffraction
عنصر شناسه ای
، X-ray crystallography
رده بندی کنگره
شماره رده
QD
945
.
S58
1999
نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )
کد نقش
AU
نام / عنوان به منزله شناسه افزوده
عنصر شناسه اي
AU Fiala, Jaroslav
عنصر شناسه اي
AU Bunge, H.-J.)Hans Joachim(
عنصر شناسه اي
TI
عنصر شناسه اي
SE
پیشنهاد / گزارش اشکال
×
پیشنهاد / گزارش اشکال
×
اخطار!
اطلاعات را با دقت وارد کنید
گزارش خطا
پیشنهاد