عنوان
پدید آورنده
موضوع
رده
TK 7871.99 .M44 S23 2007
TK
7871
.
99
.
M44
S23
2007
کتابخانه
محل استقرار
شناسگر استاندارد دیگر
شماره استاندارد
3151
عنوان و نام پديدآور
نام نخستين پديدآور
Sachdev, Manoj.
عنوان اصلي
Defect oriented testing for nano metric CMOS vlsi circuits
وضعیت نشر و پخش و غیره
نام ناشر، پخش کننده و غيره
springer
تاریخ نشرو بخش و غیره
2007
يادداشت کلی
متن يادداشت
ISBN: 0387465464 9780387465463 0387465472 9780387465470
متن يادداشت
Includes bibliographical references and index.
متن يادداشت
ng
یادداشتهای مربوط به عنوان و پدیدآور
متن يادداشت
by Manoj Sachdev
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
عنصر شناسه ای
، Metal oxide semiconductors, Complementary- Testing
عنصر شناسه ای
، Metal oxide semiconductors, Complementary- Defects
رده بندی ديویی
شماره
box1
رده بندی کنگره
شماره رده
TK
7871
.
99
.
M44
S23
2007
نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )
کد نقش
AU
نام / عنوان به منزله شناسه افزوده
عنصر شناسه اي
TI
شماره دستیابی
پسوند شماره بازيابي
1
