عنوان
پدید آورنده
موضوع
رده
QD 945 .S58 1999
QD
945
.
S58
1999
کتابخانه
محل استقرار
شناسگر استاندارد دیگر
شماره استاندارد
121981
شماره استاندارد
125244
زبان اثر
زبان متن نوشتاري يا گفتاري و مانند آن
پا‌ییز۹۷
زبان متن نوشتاري يا گفتاري و مانند آن
English
عنوان و نام پديدآور
نام عام مواد
)40-70(
نام نخستين پديدآور
Snyder, R. L. )Robert L.(
خط فهرست نويسي و خط اصلي شناسه
1941-
عنوان اصلي
Defect and microstructure analysis by diffraction
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
Oxford
نام ناشر، پخش کننده و غيره
Oxford University Press
تاریخ نشرو بخش و غیره
1999
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
xxii, 785 p.: ill.; 24 cm
فروست
عنوان فروست
International Union of Crystallography monographs on crystallography
شاپا ي ISSN فروست
10
يادداشت کلی
متن يادداشت
Includes bibliographical references and index
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
عنصر شناسه ای
، Crystals-- Defects-- Analysis
عنصر شناسه ای
، Diffraction
عنصر شناسه ای
، X-ray crystallography
رده بندی کنگره
شماره رده
QD
945
.
S58
1999
نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )
کد نقش
AU
عنصر شناسه اي
Robert L. Snyder, Jaroslav Fiala, and Hans J. Bunge
نام / عنوان به منزله شناسه افزوده
عنصر شناسه اي
AU valsoraJ ,alaiF
عنصر شناسه اي
AU (mihcaoJ snaH) .J-.H ,egnuB
عنصر شناسه اي
TI
عنصر شناسه اي
SE
شماره دستیابی
نحوه قرار گرفتن مدرك روي قفسه
07
نحوه قرار گرفتن مدرك روي قفسه
04
