عنوان
پدید آورنده
موضوع
رده
TK 7870 .25 .L35 1997
TK
7870
.
25
.
L35
1997
کتابخانه
محل استقرار
شناسگر استاندارد دیگر
شماره استاندارد
118603
زبان اثر
زبان متن نوشتاري يا گفتاري و مانند آن
پا‌ئیز۸۷
زبان متن نوشتاري يا گفتاري و مانند آن
English
عنوان و نام پديدآور
نام عام مواد
)50(
نام نخستين پديدآور
Lall, Pradeep
عنوان اصلي
Influence of temperature on microelectronics and system reliability
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
Boca Raton
نام ناشر، پخش کننده و غيره
CRC Press
تاریخ نشرو بخش و غیره
1997
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
307 p.: ill.; 26 cm
يادداشت کلی
متن يادداشت
Includes bibliographical references and index
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
عنصر شناسه ای
، Microelectronics-- Materials-- Thermal properties
عنصر شناسه ای
، Electronic packaging
عنصر شناسه ای
، Elctronic apparatus and appliances-- Reliability
رده بندی کنگره
شماره رده
TK
7870
.
25
.
L35
1997
نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )
کد نقش
AU
عنصر شناسه اي
Pradeep Lall, Michael G. Pecht, Edward B. Hakim
نام / عنوان به منزله شناسه افزوده
عنصر شناسه اي
AU .G leahciM ,thceP
عنصر شناسه اي
AU .B drawdE ,mikaH
عنصر شناسه اي
TI
شماره دستیابی
نحوه قرار گرفتن مدرك روي قفسه
05
