نمایش منو
صفحه اصلی
جستجوی پیشرفته
فهرست کتابخانه ها
عنوان
Neural models and algorithms for digital testing
پدید آورنده
by Srimat T. Chakradhar, Vishwani D. Agrawal, Michael L. Bushnell
موضوع
Logic circuits - Testing,Automatic checkout equipment,Digital integrated circuits - Testing - Data processing
رده
TK
7868
.
L6C44
1991
کتابخانه
کتابخانه مرکزی پردیس 1 فنی دانشگاه تهران
محل استقرار
استان:
تهران
ـ شهر:
تهران
تماس با کتابخانه :
61112227، 61112854 ، 61113031
زبان اثر
زبان متن نوشتاري يا گفتاري و مانند آن
لاتين
عنوان و نام پديدآور
نام نخستين پديدآور
by Srimat T. Chakradhar, Vishwani D. Agrawal, Michael L. Bushnell
نام ساير پديدآوران
author
عنوان اصلي
Neural models and algorithms for digital testing
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
Boston
نام ناشر، پخش کننده و غيره
Kluwer Academic
تاریخ نشرو بخش و غیره
1991
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
xii, 184 p. : ill. ; 25 cm
یادداشتهای مربوط به بسته بندی و دسترس بودن اثر
متن يادداشت
مرجع به حساب نمي آيد
یادداشتهای مربوط به کتابنامه ، واژه نامه و نمایه های داخل اثر
متن يادداشت
Includes bibliographical references and index
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
عنصر شناسه ای
Logic circuits - Testing
عنصر شناسه ای
Automatic checkout equipment
عنصر شناسه ای
Digital integrated circuits - Testing - Data processing
رده بندی کنگره
شماره رده
TK
7868
.
L6C44
1991
نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )
عنصر شناسه اي
مولف
کد نقش
Chakradhar, Srimat T.
نام شخص - ( مسئولیت معنوی درجه دوم )
عنصر شناسه اي
Bushnell, Michael L.(Michael Lee)
عنصر شناسه اي
Agrawal, Vishwani D.
تاريخ
1950-
تاريخ
1943-
پیشنهاد / گزارش اشکال
×
پیشنهاد / گزارش اشکال
×
اخطار!
اطلاعات را با دقت وارد کنید
گزارش خطا
پیشنهاد