نمایش منو
صفحه اصلی
جستجوی پیشرفته
فهرست کتابخانه ها
انتخاب زبان
فارسی
English
العربی
عنوان
An artificial intelligence approach to test generation
پدید آورنده
by Narinder Singh
موضوع
Integrated circuits - Very large scale integration - Testing - Data processing,Expert systems (Computer science),Artificial intelligence
رده
TK
7874
.
S533
1986
کتابخانه
کتابخانه مرکزی پردیس 1 فنی دانشگاه تهران
محل استقرار
استان:
تهران
ـ شهر:
تهران
تماس با کتابخانه :
61112227، 61112854 ، 61113031
زبان اثر
زبان متن نوشتاري يا گفتاري و مانند آن
لاتين
عنوان و نام پديدآور
نام نخستين پديدآور
by Narinder Singh
نام ساير پديدآوران
author
عنوان اصلي به قلم نويسنده ديگر
1956-
عنوان اصلي
An artificial intelligence approach to test generation
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
Boston
نام ناشر، پخش کننده و غيره
Academic Press
تاریخ نشرو بخش و غیره
1987
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
x, 193 p. : ill. ; 25 cm
یادداشتهای مربوط به بسته بندی و دسترس بودن اثر
متن يادداشت
مرجع به حساب نمي آيد
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
عنصر شناسه ای
Integrated circuits - Very large scale integration - Testing - Data processing
عنصر شناسه ای
Expert systems (Computer science)
عنصر شناسه ای
Artificial intelligence
رده بندی کنگره
شماره رده
TK
7874
.
S533
1986
نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )
عنصر شناسه اي
مولف
کد نقش
Singh, Narinder
پیشنهاد / گزارش اشکال
×
پیشنهاد / گزارش اشکال
×
اخطار!
اطلاعات را با دقت وارد کنید
گزارش خطا
پیشنهاد