نمایش منو
صفحه اصلی
جستجوی پیشرفته
فهرست کتابخانه ها
انتخاب زبان
فارسی
English
العربی
عنوان
An artificial intelligence approach to test generation
پدید آورنده
by Narinder Singh
موضوع
Integrated circuits - Very large scale integration - Testing - Data processing,Expert systems (computer science),Artificial intelligence
رده
TK
,
7874
,.
S533
,
1987
کتابخانه
کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد دانشگاه شهید مدنی آذربایجان
محل استقرار
استان:
آذربایجان شرقی
ـ شهر:
تبریز
تماس با کتابخانه :
34327567
-
041
اطلاعات محلی رکورد
نوع مدرک
English Book
عنوان و نام پديدآور
عنوان اصلي
An artificial intelligence approach to test generation
نام نخستين پديدآور
by Narinder Singh
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
Boston
نام ناشر، پخش کننده و غيره
Kluwer Academic
تاریخ نشرو بخش و غیره
1987
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
x, 193 P.; 25c.m
یادداشتهای مربوط به کتابنامه ، واژه نامه و نمایه های داخل اثر
متن يادداشت
Bibliography: P. 189
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
عنصر شناسه ای
Integrated circuits - Very large scale integration - Testing - Data processing
عنصر شناسه ای
Expert systems (computer science)
عنصر شناسه ای
Artificial intelligence
رده بندی کنگره
شماره رده
TK
,
7874
,.
S533
,
1987
نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )
عنصر شناسه اي
Singh, Narinder 1956
نام شخص - ( مسئولیت معنوی درجه دوم )
عنصر شناسه اي
Title
عنصر شناسه اي
Series
پیشنهاد / گزارش اشکال
×
پیشنهاد / گزارش اشکال
×
اخطار!
اطلاعات را با دقت وارد کنید
گزارش خطا
پیشنهاد