نمایش منو
صفحه اصلی
جستجوی پیشرفته
فهرست کتابخانه ها
عنوان
Power-aware testing and test strategies for low power devices
پدید آورنده
Patrick Girard, Nicola Nicolici, Xiaoqing Wen, editors
موضوع
Low voltage integrated circuits, Power supply,Low voltage integrated circuits, Testing
رده
TK
،
7874
،.
P678
،
2010
کتابخانه
كتابخانه مركزی و مركز اطلاع رسانی دانشگاه شاهد
محل استقرار
استان:
تهران
ـ شهر:
تهران
تماس با کتابخانه :
51214110
-
021
شابک
شابک
9781441909275 (hbk. : acid-free paper)
اطلاعات محلی رکورد
نوع مدرک
English Book
عنوان و نام پديدآور
عنوان اصلي
Power-aware testing and test strategies for low power devices
نام نخستين پديدآور
Patrick Girard, Nicola Nicolici, Xiaoqing Wen, editors
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
New York
نام ناشر، پخش کننده و غيره
Springer,
تاریخ نشرو بخش و غیره
c2010
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
xxiii, 363 p. , ill. , 24 cm.
یادداشتهای مربوط به کتابنامه ، واژه نامه و نمایه های داخل اثر
متن يادداشت
Includes bibliographical references and index.
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
عنصر شناسه ای
Low voltage integrated circuits, Power supply
عنصر شناسه ای
Low voltage integrated circuits, Testing
رده بندی ديویی
شماره
621
.
3815
رده بندی کنگره
شماره رده
TK
نشانه اثر
7874
شماره رکورد رده بندي
.
P678
شماره رکورد غير از شماره رده بندي
2010
نام شخص - ( مسئولیت معنوی درجه دوم )
عنصر شناسه اي
Girard, Patrick,Ph. D.
عنصر شناسه اي
Nicolici, Nicola.
عنصر شناسه اي
Wen, Xiaoqing.
پیشنهاد / گزارش اشکال
×
پیشنهاد / گزارش اشکال
×
اخطار!
اطلاعات را با دقت وارد کنید
گزارش خطا
پیشنهاد