ما بقی فیلدها | ،،10،،،،Defects- Analysis،،، | ||||||
عنوان و نام پديدآور | #Defect and microstructure analysis by diffraction #Robert L. Snyder, Jaroslav Fiala, and Hans J. Bunge | ||||||
وضعیت نشر و پخش و غیره | Oxford ,New York Oxford University Press #1999 | ||||||
مشخصات ظاهری | #xxii, 785 p. : ill. , 24 cm | ||||||
فروست | International Union of Crystallography monographs on crystallography | ||||||
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام) | Crystals Diffraction X-ray crystallography | ||||||
رده بندی کنگره |
| ||||||
سایر رده بندی ها | #945 | ||||||
نام شخص - (مسئولیت معنوی برابر ) | #Snyder, Robert L., 1941- | ||||||
نام / عنوان به منزله شناسه افزوده | AU،TI،SE،Fiala, Jaroslav |