1. An artificial intelligence approach to test generation

پدیدآورنده :

موضوع : ، Integrated circuits- Very large scale integration- Testing- Data processing,، Expert systems )Computer science(,، Artificial intelligence

۳ نسخه از این کتاب در ۳ کتابخانه موجود است.

2. VLSI for artificial intelligence

موضوع : ، Artificial intelligence-- Data processing,، Integrated circuits-- Very large scale integration

۳ نسخه از این کتاب در ۳ کتابخانه موجود است.