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عنوان
Raster-Elektronenmikroskopie
پدید آورنده
[von] L. Reimer [und] G. Pfefferkorn.
موضوع
Instruments d'optique.,Optique électronique.,Scanning electron microscopes.
رده
QH212
.
S3
V665
1973
کتابخانه
Center and Library of Islamic Studies in European Languages
محل استقرار
استان:
Qom
ـ شهر:
Qom
تماس با کتابخانه :
32910706
-
025
INTERNATIONAL STANDARD BOOK NUMBER
(Number (ISBN
3662000830
(Number (ISBN
9783662000830
NATIONAL BIBLIOGRAPHY NUMBER
Number
b578705
TITLE AND STATEMENT OF RESPONSIBILITY
Title Proper
Raster-Elektronenmikroskopie
General Material Designation
[Book]
First Statement of Responsibility
[von] L. Reimer [und] G. Pfefferkorn.
.PUBLICATION, DISTRIBUTION, ETC
Place of Publication, Distribution, etc.
Berlin
Name of Publisher, Distributor, etc.
New York, Springer
Date of Publication, Distribution, etc.
1973
PHYSICAL DESCRIPTION
Specific Material Designation and Extent of Item
(xi, 263 pages) illustrations
CONTENTS NOTE
Text of Note
1. Einleitung --; 1.1. Prinzipielle Wirkungsweise und Betriebsarten eines Raster-Elektronenmikroskopes --; 1.2. Vergleich des Raster-Elektronenmikroskopes mit dem Lichtmikroskop und Transmissions-Elektronenmikroskop --; 1.3. Vergleich des Raster-Elektronenmikroskopes mit anderen Elektronenstrahlgeräten --; Literatur zu {sect} 1 --; Monographien und Tagungsbände --; 2. Wechselwirkung Elektron-Materie --; 2.1. Einleitung --; 2.2. Elektronenstreuung am Einzelatom --; 2.3. Streuung in einer durchstrahlbaren Schicht --; 2.4. Elektronendiffusion in kompaktem Material --; 2.5. Rückstreuung und Sekundärelektronen-Emission --; Literatur zu {sect} 2 --; 3. Elektronenoptik, Aufbau und Funktion des Raster-Elektronenmikroskopes --; 3.1. Elektronenoptische Grundlagen --; 3.2. Abrasterung und Fokussierung --; 3.3. Objektveränderungen durch Elektronenbeschuß --; 3.4. Objektkammer und Detektoren --; 3.5. Elektronik und Bildaufzeichnung --; 3.6. Spezielle Techniken der Raster-Elektronenmikroskopie --; Literatur zu {sect} 3 --; 4. Abbildung mit Sekundär-, Rückstreuelektronen und Probenströmen --; 4.1. Oberflächentopographie --; 4.2. Materialkontrast --; 4.3. Channelling-Diagramme und Orientierungskontrast --; 4.4. Abbildung und Messung elektrischer Potentiale --; 4.5. Abbildung und Messung magnetischer Objektfelder --; 4.6. Abbildung mit internen Probenströmen und elektromotorischen Kräften --; Literatur zu {sect} 4 --; 5. Raster-Transmissions-Elektronenmikroskopie --; 5.1. Spezielle Eigenschaften des Rasterprinzips in Transmission --; 5.2. Realisierung des Transmissionsbetriebes --; Literatur zu {sect} 5 --; 6. Materialanalyse mit Augerelektronen, Röntgen- und Lichtquanten --; 6.1. Physikalische Grundlagen der Röntgenquanten- und Augerelektronen-Emission --; 6.2. Wellenlängen- und energiedispersive Röntgenanalyse --; 6.3. Kossel-Diagramme --; 6.4. Kathodolumineszenz --; Literatur zu {sect} 6 --; 7. Auswertemethoden rasterelektronenmikroskopischer Aufnahmen --; 7.1. Stereoaufnahmen --; 7.2. Stereometrie --; 7.3. Optische Transformationen --; Literatur zu {sect} 7 --; 8. Präparation --; 8.1. Einleitung --; 8.2. Präparatmontage und Oberflächenvorbereitung --; 8.3. Stabilisierung der Objekte --; 8.4. Kleine Teilchen und durchstrahlbare Präparate --; 8.5. Abdruckverfahren --; 8.6. Vermeidung von Aufladungen --; 8.7. Erweiterung der Bildinformation --; Literatur zu {sect} 8.
TOPICAL NAME USED AS SUBJECT
Instruments d'optique.
Optique électronique.
Scanning electron microscopes.
LIBRARY OF CONGRESS CLASSIFICATION
Class number
QH212
.
S3
Book number
V665
1973
PERSONAL NAME - PRIMARY RESPONSIBILITY
[von] L. Reimer [und] G. Pfefferkorn.
PERSONAL NAME - ALTERNATIVE RESPONSIBILITY
Gerhard Pfefferkorn
Ludwig Reimer
ELECTRONIC LOCATION AND ACCESS
Electronic name
مطالعه متن کتاب
[Book]
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