عنوان
پدید آورنده
موضوع
رده
کتابخانه
محل استقرار
شابک
شابک
1615833153
شابک
9781615833153
شماره کتابشناسی ملی
شماره
b405450
عنوان و نام پديدآور
عنوان اصلي
Test and diagnosis of analogue, mixed-signal and RF integrated circuits
نام عام مواد
[Book]
ساير اطلاعات عنواني
the system on chip approach /
نام نخستين پديدآور
edited by Yichuang Sun.
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
London :
نام ناشر، پخش کننده و غيره
Institution of Engineering and Technology,
تاریخ نشرو بخش و غیره
2008.
فروست
عنوان فروست
Circuits, devices and systems series ;
مشخصه جلد
19
یادداشتهای مربوط به کتابنامه ، واژه نامه و نمایه های داخل اثر
متن يادداشت
Includes bibliographical references and index.
یادداشتهای مربوط به تکثیر
متن يادداشت
Electronic access restricted to users at licensed institutions.
ویراست دیگر از اثر در قالب دیگر رسانه
شماره استاندارد بين المللي کتاب و موسيقي
9780863417450
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
موضوع مستند نشده
Linear integrated circuits-- Testing.
موضوع مستند نشده
Mixed signal circuits-- Testing.
موضوع مستند نشده
Radio frequency integrated circuits-- Testing.
نام شخص - (مسئولیت معنوی برابر )
مستند نام اشخاص تاييد نشده
Sun, Yichuang.
نام تنالگان _ (مسئولیت معنوی برابر)
مستند نام تنالگان تاييد نشده
Institution of Engineering and Technology.
مستند نام تنالگان تاييد نشده
Knovel (Firm)
مبدا اصلی
تاريخ عمليات
20100622113920.0
دسترسی و محل الکترونیکی
نام الکترونيکي
مطالعه متن کتاب اطلاعات رکورد کتابشناسی
نوع ماده
[Book]
اطلاعات دسترسی رکورد
تكميل شده
Y
