کاربر محترم! صفحه مورد نظر یافت نشد! فهرست زیر، نزدیکترین محتوا به صفحه درخواستی شما است. برای جستجوی جدید از کلید زیر استفاده نمایید:
جستجوی کتابDigital systems testing and testable design
پدیدآورنده: Abramovici, Miron.
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی امیرکبیر (تهران)
موضوع: Digital integrated circuits - Testing , Digital integrated circuits - Design and construction
رده :
TK
7874
.
A23
Digital systems testing and testable design
پدیدآورنده: Abramovici, Miron
کتابخانه: كتابخانه پژوهشگاه نیرو (تهران)
موضوع: ، Digital integrated circuits- Testing,، Digital integrated circuits- Design and construction
رده :
TK
7874
.
A23
1990
Digital systems testing and testable design
پدیدآورنده: Abramovici, Miron
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی اصفهان (اصفهان)
موضوع: Digital integrated circuits- Testing►Digital integrated circuits- Design and construction
رده :
7874
.
A23
Digital systems testing and testable design
پدیدآورنده: / Miron Abramovici, Melvin A. Breuer, Arthur D. Friedman
کتابخانه: کتابخانه پرديس 2 دانشکده‌های فنی دانشگاه تهران (تهران)
موضوع: Digital integrated circuits - Testing,Digital integrated circuits - Design and construction
رده :
TK
7874
.
A23
1990
Digital systems testing and testable design
پدیدآورنده : Abramovici, Miron.
موضوع : ، Digital integrated circuits-- Testing,، Digital integrated circuits-- Design and construction
۳ نسخه از این کتاب در ۳ کتابخانه موجود است.
Digital systems testing and testable design /
پدیدآورنده: Miron Abramovici, Melvin A. Breuer, Arthur D. Friedman.
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)
موضوع: Digital integrated circuits-- Design and construction.,Digital integrated circuits-- Testing.,Digital integrated circuits-- Design and construction.,Digital integrated circuits-- Testing.
رده :
TK7874
.
A23
1990b
Digital systems testing and testable design
پدیدآورنده:
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد دانشگاه اصفهان (اصفهان)
موضوع: Digital integrated circuits ► Digital integrated circuits
رده :
621
.
A161d
