181. An Introduction to Mixed-Signal IC Test and Measurement

المکتبة: مكتبات الكلية التقنية بجامعة طهران (طهران)

موضوع: Electronics,Mechatronics

182. An Investigation of Test Fairness in a Large-Scale High-Stakes Undergraduate University Entrance English Exam in Iran

المؤلف:

المکتبة: المكتبة المركزية بجامعة تبريز و مركز التوثيق والنشر (أذربایجان الشرقیة)

موضوع: Differential item functioning, Iranian Undergraduate University Entrance Special English Exam (IUUESEE), Language testing, Rasch analysis, Test fairness,آزمون زبان، آزمون کنکور سراسری زبان انگلیسی تخصصی، آنالیز راش،عدالت آزمون، کنش افتراقی سوال.

183. An Investigation of the Individual Learner Differences as Test Bias Factors

المؤلف:

المکتبة: المكتبة المركزية بجامعة تبريز و مركز التوثيق والنشر (أذربایجان الشرقیة)

موضوع: Cognitive styles, Individual learner differences, Language anxiety, Learner beliefs, Learning strategies, Learning styles, Personality, Test bias,شیوه های شناختی، تفاوت های فردی زبان آموزان، اضطراب زبانی، باورهای زبان آموزان، فنون یادگیری، شیوه های یادگیری، شخصیت، انحراف آزمون

184. An analysis of performance test scores of a representative group of scottish chidern

المؤلف:

المکتبة: کتابخانه دانشکده مدیریت دانشگاه تهران (طهران)

موضوع: Intelligence levels-Scotland

185. An artificial intelligence approach to test generation

المؤلف:

المکتبة: (طهران)

موضوع: Integrated circuits - Very large scale integration - Testing - Data processing , Expert systems )Computer science( , Artificial intelligence

رده :
TK
7874
.
S533

186. An artificial intelligence approach to test generation

المؤلف:

المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه صنعتي خواجه نصير الدين طوسى (طهران)

موضوع: ، Integrated circuits -- Very large scale integration -- Testing -- Data processing,، Expert systems )Computer science(,، Artificial intelligence

رده :
TK
7874
.
S533

187. An artificial intelligence approach to test generation

المؤلف:

المکتبة: مكتبات الكلية التقنية بجامعة طهران (طهران)

موضوع: Integrated circuits - Very large scale integration - Testing - Data processing,Expert systems (Computer science),Artificial intelligence

رده :
TK
7874
.
S533

188. An artificial intelligence approach to test generation

المؤلف:

المکتبة: مكتبات الكلية التقنية 1 بجامعة طهران (طهران)

موضوع: Integrated circuits - Very large scale integration - Testing - Data processing,Expert systems (Computer science),Artificial intelligence

رده :
TK
7874
.
S533
1986

189. An artificial intelligence approach to test generation

المؤلف:

المکتبة: مكتبات الكلية التقنية بجامعة طهران (طهران)

موضوع: Integrated circuits - Very large scale integration - Testing - Data processing,Expert systems (Computer science),Artificial intelligence

رده :
TK
7874
.
S533
1986

190. An artificial intelligence approach to test generation

المؤلف:

المکتبة: مكتبات الكلية التقنية 1 بجامعة طهران (طهران)

موضوع: Integrated circuits - Very large scale integration - Testing - Data processing,Expert systems (Computer science),Artificial intelligence

رده :
TK
7874
.
S533

191. An artificial intelligence approach to test generation

پدیدآورنده :

موضوع : $AIntegrated circuits - Very large scale integration - Testing - Data processing,$AExpert systems )Computer science(,$AArtificial intelligence

۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.

192. An artificial intelligence approach to test generation

المؤلف:

المکتبة: كتابخانه پژوهشگاه نیرو (طهران)

موضوع: ، Integrated circuits- Very large scale integration- Testing- Data processing,، Expert systems )Computer science(,، Artificial intelligence

رده :
TK
7874
.
S533
1987

193. An artificial intelligence approach to test generation

المؤلف:

المکتبة: مكتبات الكلية التقنية بجامعة طهران (طهران)

موضوع: Integrated circuits - Very large scale integration - Testing - Data processing,Expert systems (Computer science),Artificial intelligence

رده :
TK
7874
.
S533
1986

194. An easier test book

المؤلف:

المکتبة: سازمان اسناد و كتابخانه ملی جمهوری اسلامی ایران (طهران)

195. An effective test book in English for university entrance examination

المؤلف:

المکتبة: سازمان اسناد و كتابخانه ملی جمهوری اسلامی ایران (طهران)

196. An index of U.S. voluntary engineering standards ; covering those standards, specifications, test

المؤلف:

المکتبة: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (طهران)

موضوع: Indexes ، Standards, Engineering

رده :
QC
100
.
U57
no
.
329

197. An introduction to language across achivement test

المؤلف:

المکتبة: (طهران)

رده :
378
‏.
1664
‏
I
267
B
‏
1388
‏

198. An introduction to language across achivement test

المؤلف:

المکتبة: (طهران)

رده :
378
‏.
1664
‏
I
267
B
‏
1388
‏

199. An introduction to mixed-signal IC test and measurement

المؤلف:

المکتبة: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه محقق اردبیلی ره (أردبیل)

موضوع: Integrated circuits- Testing,Mixed signal circuits- Testing

رده :
TK7874
.
B825
2001

200. An introduction to mixed-signal IC test and measurement.

المؤلف:

المکتبة: كتابخانه و مركز اسناد دانشگاه كردستان (کردستان)

موضوع: Testing ، Integrated circuits,Testing ، Mixed signal circuits

رده :
TK7874
.
B825
2001