41. Computer simulation of electron microscope diffraction and images : Proceeding of a topical
المؤلف: Edited by William Krakow, Michael O'keefe
المکتبة: المکتبه المرکزيه ومرکز التوثیق بجامعة الشهید باهنر فی کرمان (کرمان)
موضوع: ، Computer simulation,، Electron microscopy,، Diffraction
رده :
QA
76
.
9
.
C65
1989
42. Computer simulation of electron microscope diffraction and images : proceedings of a topical
المؤلف: sponsored by the ASM/MSD Computer Simulation Committee, held at the TMS Annual Meeting in Las Vegas, Nevada, February 82-March 3, 9891 ; edited by William Krakow, Michael O'Keefe
المکتبة: (طهران)
موضوع: Computer simulation -- Congresses ، Electron microscopy,Computer simulation -- Congresses ، Electrons -- Diffraction
رده :
QH
212
.
E4
C6
1989
43. Crystals and Crystallinity in Polymers: Diffraction Analysis of Ordered and Disordered Crystals
المؤلف: / De Rosa
المکتبة: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع: MATERIALS SCIENCE (uncategorised)
رده :
E-BOOK
44. Crystals and crystallinity in polymers : diffraction analysis of ordered and disordered crystals
المؤلف: / Claudio De Rosa
المکتبة: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع: ENGINEERING, CHEMICAL|MATERIALS SCIENCE (uncategorised)
رده :
E-BOOK
45. Crystals and crystallinity in polymers : diffraction analysis of ordered and disordered crystals
المؤلف: De Rosa, Claudio.
المکتبة: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (طهران)
موضوع: ، Crystalline polymers,، Crystallization,، TECHNOLOGY & ENGINEERING / Chemical & Biochemical
رده :
QD
382
.
C78
D43
2014
47. Defect and Microstructure Analysis by Diffraction
المؤلف: / Robert L. Snyder, Jaroslav Fiala, Hans J. Bunge
المکتبة: المكتبة المركزية ومركز الوثائق بجامعة آراك (مرکزي)
موضوع: Diffraction,Diffraction-- Defects
رده :
535
.
42
S675D
48. Defect and microstructure analysis by diffraction
المؤلف: Snyder, Robert L.
المکتبة: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع: Defects -- Analysis ، Crystals,، Diffraction,، X-ray crystallography
رده :
QD
945
.
S58
1999
49. Defect and microstructure analysis by diffraction
المؤلف: / Robert L. Snyder, Jaroslav Fiala, and Hans J. Bunge
المکتبة: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع: Crystals--Defects--Analysis,Diffraction.,X-ray crystallography.
رده :
QD945
.
S58
1999
50. #Defect and microstructure analysis by diffraction
پدیدآورنده : Snyder, R. L. )Robert L.(
موضوع : ، Crystals-- Defects-- Analysis,، Diffraction,، X-ray crystallography
۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.
51. Defect and microstructure analysis by diffraction
المؤلف: Snyder, R. L. )Robert L.(
المکتبة: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (طهران)
موضوع: Defects Analysis ، Crystals,، Diffraction,، X-ray crystallography
رده :
QD
945
.
S58
1999
52. Defect and microstructure analysis by diffraction
المؤلف: / Robert L. Snyder, Jaroslav Fiala and Hans J. Nunge
المکتبة: المكتبة المركزية بجامعة تبريز و مركز التوثيق والنشر (أذربایجان الشرقیة)
موضوع: Crystals - Defects - Analysis,Diffraction,X-ray crystallography
رده :
QD945
.
S58
1999
53. Defects and microstructure analysis by diffraction
المؤلف: / Robert L.synder, Jaroslar fiala, hans J.bunge
المکتبة: المكتبة المركزية بجامعة تبريز و مركز التوثيق والنشر (أذربایجان الشرقیة)
موضوع: Defects,Microstructure
رده :
QD921
.
S96D43
1999
54. Diffraction
المؤلف: /H Bouasse; Zéphyrin Carrière.
المکتبة: سازمان اسناد و كتابخانه ملی جمهوری اسلامی ایران (طهران)
موضوع:
55. Diffraction-Limited Imaging with Very Large Telescopes
المؤلف: edited by D.M. Alloin, J.-M. Mariotti.
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Physics.
رده :
QB4
.
E358
1989
56. Diffraction analysis of the microstructure of materials
المؤلف: / E.J. Mittemeijer, P. Scardi, eds
المکتبة: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع: Crystal optics,Microstructure,Diffraction
رده :
TA418
.
9
.
C7D54
2004
57. Diffraction and imaging techniques in material science
المؤلف: editors, S. Amelinckx, R. Gevers, J. Van Landuyt.
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Electron microscopy, Congresses.,Electrons-- Diffraction, Congresses.,Imaging systems, Congresses.,Afbeeldingen (algemeen),Elektronenmicroscopie.,MICROSCÓPIO ELETRÔNICO (CONGRESSOS)
58. Diffraction and imaging techniques in material science
المؤلف:
المکتبة: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (طهران)
موضوع: ، Electron microscopy-- Congresses,، Electrons-- Diffraction-- Congresses,، Imaging systems-- Congresses
رده :
TA
417
.
23
.
D54
59. Diffraction and imaging techniques in material science
المؤلف: editors, S. Amelinckx, R. Gevers, J. Van Landuyt.
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Electron microscopy, Congresses.,Electrons-- Diffraction, Congresses.,Imaging systems, Congresses.,Afbeeldingen (algemeen),Elektronenmicroscopie.,MICROSCÓPIO ELETRÔNICO (CONGRESSOS)
60. Diffraction and spectroscopic methods in electrochemistry
المؤلف: edited by Richard C. Alkire ...]et al.[
المکتبة: المکتبه المرکزيه ومرکز التوثیق بجامعة الشهید باهنر فی کرمان (کرمان)
موضوع: ، Electrochemistry,، Chemical engineering
رده :
QD
553
.
D55
2006
