1. An introduction to logic circuit testing /
المؤلف: Parag K. Lala
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Digital electronics-- Testing,Electric fault location,Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing,Logic circuits-- Testing
2. Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty
المؤلف: \ Smita Krishnaswamy, Igor L. Markov, John P. Hayes
المکتبة: کتابخانه زبانهای خارجی و منابع اسلامی (قم)
موضوع: Logic circuits -- Design,Logic circuits -- Testing,Uncertainty (Information theory),مدارهای منطقی -- طراحی,مدارهای منطقی -- آزمایش,عدم قطعیت (نظریه اطلاعات)
رده :
E-Book
,
3. Design, analysis and test of logic circuits under uncertainty
المؤلف: Smita Krishnaswamy, Igor L. Markov, John P. Hayes
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Logic circuits-- Design,Logic circuits-- Testing,Uncertainty (Information theory)
رده :
TK7868
.
L6
K75
2013
4. Design of testable logic circuits
المؤلف: R.G. Bennetts
المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اطلاع رساني دانشگاه شاهد (طهران)
موضوع: Logic circuits,Logic circuits--Testing
رده :
TK
،
7868
،.
L6
,
B45
،
1984
5. Design of testable logic circuits
المؤلف: Bennetts, R.G.
المکتبة: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع: Logic circuits,Logic circuits - Testing
رده :
TK
7868
.
L6
B45
1984
6. Design of testable logic circuits
المؤلف: BENNETTS,R G
المکتبة: (طهران)
موضوع: LOGIC CIRCUITS , LOGIC CIRCUITS-TESTING
رده :
TK
7868
.
L6
B45
1984
7. Design of testable logic circuits
المؤلف: / R.G. Bennetts
المکتبة: مكتبات الكلية التقنية بجامعة طهران (طهران)
موضوع: Logic circuits,Logic circuits - Testing
رده :
TK
7686
.
L6B45
1984
8. Edsign of testable logic circuits
المؤلف: Bennetts, R.G.
المکتبة: (خراسان الجنوبیة)
موضوع: ، Logic circuits,، logic circuits - testing
رده :
TK
7686
.
L6
B45
1984
9. Neural models and algorithms for digital testing
المؤلف: Chakradhar, Srimat T.
المکتبة: كتابخانه پژوهشگاه نیرو (طهران)
موضوع: ، Logic circuits- Testing,، Automatic checkout equipment,، Digital integrated circuits- Testing- Data processing
رده :
TK
7868
.
L6C44
1991
10. Neural models and algorithms for digital testing
المؤلف: / by Srimat T. Chakradhar, Vishwani D. Agrawal, Michael L. Bushnell
المکتبة: مكتبات الكلية التقنية بجامعة طهران (طهران)
موضوع: Logic circuits - Testing,Automatic checkout equipment,Digital integrated circuits - Testing - Data processing
رده :
TK
7868
.
L6C44
1991
11. Reasoning in Boolean networks: logic synthesis and verification using testing techniques
المؤلف: Kunz, Wolfgang
المکتبة: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (طهران)
موضوع: ، Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing-- Data processing,، Integrated circuits-- Verification-- Data processing,، Logic design-- Data processing
رده :
TK
7874
.
K866
1997
12. Selected reprints on logic design for testability
المؤلف: Compiled by Constantin C. Timoc
المکتبة: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع: Logic circuits - Testing - Addresses, essays, lectures
رده :
TK
7888
.
4
.
S45
1984
13. Sequential logic testing and verification
المؤلف: / by Abhijit Ghosh, Srinivas Devadas, A. Richard Newton,Ghosh
المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه تهران (طهران)
موضوع: Logic circuits -- Testing,Logic design,Computer - aided design
رده :
TK
7868
.
L6G47
1992
14. The board designer's guide to testable logic circuits
المؤلف: Maunder, Colin M., Colin Maunder
المکتبة: كتابخانه و مركز اسناد دانشگاه كردستان (کردستان)
موضوع: Testing ، Logic circuits
رده :
TK7868
.
L6
M376
1992
