41. Fundamental principles of engineering nanometrology /
المؤلف: Richard Leach
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Metrology.,Microtechnology.,Nanotechnology.
رده :
T174
.
7
.
L43
2014eb
42. Fundamental principles of engineering nanometrology
المؤلف: Leach, R. K.
المکتبة: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (طهران)
موضوع: ، Nanotechnology,، Microtechnology,، Metrology
رده :
T
174
.
7
.
L43
2010
43. Fundamental principles of engineering nanometrology
المؤلف: Leach, R. K.
المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه صنعتي خواجه نصير الدين طوسى (طهران)
موضوع: ، Nanotechnology,، Microtechnology,، Metrology
رده :
T
174
.
7
.
L43
2010
44. Fundamental principles of engineering nanometrology
المؤلف: / Richard Leach
المکتبة: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع: Metrology,Microtechnology,Nanotechnology
رده :
T174
.
7
.
L43
2014
45. Fundamental principles of engineering nanometrology /
المؤلف: Richard Leach
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Metrology.,Microtechnology.,Nanotechnology.
رده :
T174
.
7
.
L43
2014eb
46. Fundamental principles of engineering nanometrology
المؤلف: Leach, R. K.
المکتبة: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع: ، Nanotechnology,، Microtechnology,، Metrology
رده :
T
174
.
7
.
L43
2010
47. Handbook of industrial metrology
المؤلف: / editor Frank W. Wilson
المکتبة: كتابخانه مركزي آستان قدس رضوي (ع) - تالار كتابهای خارجی (خراسان رضوی)
موضوع: Measurement,Metrology
رده :
670
H236
R
48. Handbook of industrial metrology ; a reference book on principles ,techniques and instrumentation design and application for physical measurements in the manufacturing industries
المؤلف: / Prepared under policy supervision of publication committee of american society of tool and manufacturing
المکتبة: مكتبات الكلية التقنية 1 بجامعة طهران (طهران)
موضوع: Mensuration,Industrial metrology
رده :
T
50
.
A4
49. Handbook of metrology
المؤلف: / edited by Michael Gleaser and Manfred Kochsiek
المکتبة: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه محقق اردبیلی ره (أردبیل)
موضوع: Metrology--Handbooks, manuals, etc
رده :
T50
.
H267
2010
R
50. Handbook of optical metrology
المؤلف: / edited by Toru Yoshizawa
المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه شهيد چمران (خوزستان)
موضوع: Optical measurements--Handbooks, manuals, etc,Metrology--Handbooks, manuals, etc
رده :
QC
,
367
,.
H36
,
2009
51. Handbook of optical metrology
المؤلف: / edited by Toru Yoshizawa
المکتبة: مكتبات الكلية التقنية بجامعة طهران (طهران)
موضوع: Optical measurements,Metrology
رده :
QC
367
.
H36
2009
R
52. Handbook of optical metrology :
المؤلف: edited by Toru Yoshizawa
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Metrology, Handbooks, manuals, etc,Optical measurements, Handbooks, manuals, etc
رده :
QC367
53. Handbook of optical metrology
المؤلف: / edited by Toru Yoshizawa
المکتبة: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع: Optical measurements--Handbooks, manuals, etc,Metrology--Handbooks, manuals, etc
رده :
QC367
.
H36
2009
54. Handbook of optical metrology :
المؤلف: edited by Toru Yoshizawa
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Metrology, Handbooks, manuals, etc,Optical measurements, Handbooks, manuals, etc
رده :
QC367
.
H36
2009
55. Holographic and speckle interferometry :
المؤلف: Robert Jones, Catherine Wykes
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Holographic interferometry,Speckle metrology
رده :
TA1555
.
J66
1989
56. Holographic and speckle interferometry :
المؤلف: Robert Jones, Catherine Wykes
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Holographic interferometry,Speckle metrology
رده :
TA1555
.
J66
1989
57. Holographic and speckle interferometry : a discussion of the theory practice and application hof the techniques
المؤلف: / Robert Jones Catherine Wykes
المکتبة: المكتبة المركزية بجامعة تبريز و مركز التوثيق والنشر (أذربایجان الشرقیة)
موضوع: Holographic interferometry,Speckle metrology
رده :
TA1555
.
J66
1989
58. Holographic and speckle interferometry : a discussion of the theory, practice, and application of the techniques
المؤلف: Jones, Robert, 6491-
المکتبة: (طهران)
موضوع: ، Holographic interferometry,، Speckle metrology
رده :
TA
1555
.
J6
1989
59. Industrial applications for optical data processing and holography
المؤلف: / edited by Edgar Conley, Jean Robillaro
المکتبة: المكتبة المركزية بجامعة تبريز و مركز التوثيق والنشر (أذربایجان الشرقیة)
موضوع: Holography - Industrial applications,Speckle metrology - Industrial applications,Optical pattern recognition - Industrial applications
رده :
TA1542
.
I5
1992
60. Information Modeling for Interoperable Dimensional Metrology
المؤلف: / Yaoyao Zhao...[et al].
المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه تهران (طهران)
موضوع: Metrology -- Data processing.,Internetworking (Telecommunication).
رده :
TS155
.
63
.
I6
2011
